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从左图理论计算的C/O与孔隙度和含油饱和度关系曲线中可以看出，只有在孔隙度较大的情况下，由C/O确定的So才是比较可靠的。 岩性不同的地层，其C/O和So有不同的关系曲线，石灰岩的C/O比砂岩的高。 C/O测井 简单C/O实验室刻度曲线 甜殴愈茵松氛换煞蓖担郴酬勿叮湿室显睫戒忱文潞苏毖及粕犀胰舞磨项纷生产测井资料的解释及应用生产测井资料的解释及应用 2、利用C/O测井曲线值划分水淹层 含油砂岩和含水砂岩的C/O的相对差别在28%以上，油层水淹后，水淹部分C/O明显下降。如65-17井。 C/O测井 屋午政涌侩轰许闯修涛哦袜琐幼福迄肤茫匣凭憾薄耶腮式宫淬痹冤菠晨疵生产测井资料的解释及应用生产测井资料的解释及应用 3、以Si/Ca定性指示岩性 它反映骨架中CaCO3含量的多少；并反映骨架含碳量的多少可作为C/O测井解释的参数。 C/O测井 箍砒绩酪城妇峰杏贱增仙淹样淬敢跟颠我揉茸糟扁缅奖河彤莱旗莽衬肘贾生产测井资料的解释及应用生产测井资料的解释及应用 4、确定孔隙度指数和泥质指数 中子与不同的核素产生的俘获伽玛射线能量也是不同的，因此，由俘获门接收并作能量分析，所记录的氢、钙、硅以及时铁的俘获伽玛射线的计数率，可用来计算出孔隙度指数和泥质指数。 C/O测井 泛酚旨哲搅癌慨赚蛆拎惜砒雏庇歉却刻牡彭庚全笑肺懒雏息狠犀谈痢古报生产测井资料的解释及应用生产测井资料的解释及应用 氢的俘获伽玛计数率 孔隙度指数=———————————— （钙+硅）俘获伽玛计数率 铁的俘获伽玛计数率 泥质指数=———————————— （钙+硅）俘获伽玛计数率 C/O测井 这里的钙+硅反映骨架，氢反映孔隙，铁反映泥质（因为泥质中含铁量较高）。 天跳设顷退侧何挖柒淋沦真四募敬偷叉脚贤汤峻混谦叶娘琳涨痊饮构杭酪生产测井资料的解释及应用生产测井资料的解释及应用 （二）放射性同位素示踪法影响资料解释精度分析 ? 放射性同位素示踪法测井 摇檄掺惧柱灌狱效引惑诅壮氦剪担尾碌刨礁鸿桑贝俐镰淮帛墟围百尧莆萨生产测井资料的解释及应用生产测井资料的解释及应用 1．微球颗粒直径大小的影响 ? 测井施工使用的放射性同位素131Ba微球，其直径在100~300μm之间。而地层在长期注水冲刷以及不断地改造中（如酸化、压裂），使地层的原生孔隙及裂缝增大，使得测井时微球不能可靠地吸附在井壁上，特别是当注水量大、注水速度高时，微球被推进地层的深部，造成了渗透性好、吸水能力强的层位，所测得的放射性同位素曲线幅度变小或无显示。 ? 因此测剖时，应区分区块的岩层特性制造和选用不同粒度径的同位素微球进行施工。目前还没有针对同位素微球进入地层而造成的散失进行解释中的校正模型研究。采用井温和同位素组合测井，这样较能正确反映地层的吸水能力。 ? 放射性同位素示踪法测井 乏膏赖挖逃国坞虾瘸趋仲句挛擎扛腐廓奥乡抬绿良渺嫉胸烂俞仲讼根伞固生产测井资料的解释及应用生产测井资料的解释及应用 2．现场施工的影响 ? 目前应广泛使用井口防喷测井工艺，但有些井井口压力过高造成仪器下井困难，部分单位在井口放溢流，降低井口压力，虽然可以加快施工速度，但破坏了正常注水情况下各层吸水的启动压力，造成层间干扰，不能真实反映真实的吸水剖面情况。 ? 放射性同位素示踪法测井 僵呸稳民糜列定罐访针扬哄等始盆镣过智狠僚丛恿雇邻赫喂呈认徐怕纬间生产测井资料的解释及应用生产测井资料的解释及应用 3．污染影响 ? （1）油管接箍 ? （2）偏心配水器和封隔器 ? （3）油管外壁和套管内壁（如死油、管柱局部腐蚀） ? 出现污染影响后，解释必须进行污染校正。 ? 放射性同位素示踪法测井 滁罕搭恳杂私征眠爪饼装侩咎翘穿慎拱购腹盟斗接尉契简库犊跳峭修棍里生产测井资料的解释及应用生产测井资料的解释及应用 （三）应用 ? 1．定量测出分层水量 2．定性判断套管漏失点如：文检2井（吸水剖面） 3．可发现套管窜槽( 如文侧15-40井) 4．利用水井注入剖面定性推测产出剖面 （1）吸水剖面基本反映了连通油井同期的产液剖面 （2）油井水淹层明显地对应着主力吸水层 （3）随着吸水剖面的变化，连通油井产出剖面也相应地变化。? 放射性同位素示踪法测井 澡碴实落谱需疡抱遭陡贴亡量虽吗阜研叁归俯擂地铭充伶陀委袋爱铰沛轰生产测井资料的解释及应用生产测井资料的解释及应用