电子产品可靠性试验-环境试验要点.docx

一、可靠性理论基础二、试验（GB）一．总则：GB2421-2008 电工电子产品环境试验本系列标准不涉及环境试验样品性能要求， 环境试验期间和试验以后， 试验样品的容许性能限值由被试验样品的相关规范规定。基准标准大气压：20℃，101.3KPa测量与试验标准大气压：15℃-30℃，25%RH-75%RH，86KPa-106KPa。自由空气条件：无限大空间，空气运动只受散热试验样品本身影响，样品辐射能量全部由周围空气吸收。散热试验样品与非散热试验样品界定：在自由空气条件和试验标准大气压下，温度稳定后测得的试验样品温度与环境温度是否大于5℃。环境温度：是采用在试验样品之下0mm - 5 0mm的一个水平面上面，而且与试验样品和试验箱壁等距离处或者距离试样品1 m处若干温度。 ( 二者取温度值小的) 的平均值。 应采取适当措施防止热辐射影响这些温度的测量。热稳定：试验样品表面温度与最后所测表面温度之差3℃(非散热试验样最后所测表面温度即试验箱温度；散热试验样品则需多次测量才能确定)A: 低温。B: 高温C: 恒定湿热。D: 交变湿热E: 冲撞( 例如冲击和碰撞) 。F: 振动。G: 稳态加速度。H: 待定( 原分配在贮存试验) 。J : 长霉。K: 腐蚀性大气( 例如盐雾) 。L: 砂尘。M: 高气压或低气压N: 温度变化。P : 待定( 原分配在“ 可燃性” 试验)Q: 密封( 包括板密封， 容器密封与防止流体浸入和漏出的密封) 。R: 水( 例如雨水、 滴水) 。S : 辐射( 例如太阳辐射， 但不包括电磁辐射)T: 锡焊( 包括耐焊接热) 。U: 引出端强度( 元件的) 。V: 待定( 原分配在“ 噪声” . 但“ 噪声诱发的振动” 将归于试验F g ， 即“ 振动” 系列试验之一) 。W: 待定。X：作为字头与另一个大写字母一起用于新增加的试验方法命名。例如试验XA：在清洗剂中浸渍Y: 待定。Z：用于表示综合试验与组合试验。方法如下：Z后面跟一斜杠和一组综合实验或组合试验相关的大写字母。例如Z/AM:试验低温和低气压综合试验。综合试验：≥2种试验环境同时作用于试验样品。组合实验：依次连续暴露≥2种试验环境分别进行试验试验顺序（s e q u e n c e o f t e s t s）试验样品被依次暴露到两种或两种以上试验环境中的顺序。 1 各次暴露之间的时间间隔通常对试验样品不产生明显影响 2 各次暴露之间通常要进行预处理和恢复 3 通常在每次暴露之前和之后进行检测， 前一项暴露的最后检测就是下 项暴露的初始检测受控恢复条件：实际试验温度±1℃（15℃-30℃），73%RH-77%RH，86KPa-106KPa。（测量前如果要求对试验样品进行干燥， 除有关规范另有规定外， 应在下述的条件下干燥6 h。标准干燥条件55±2℃/20%）恢复条件：条件试验后，在检测之前：试验样品应在检测环境温度下稳定；当样品试验后电气参数变化很快，应按受控恢复条件恢复；但当样品试验后电气参数变化不快，则按试验标准大气压恢复条件下进行恢复。持续时间在GB/T2423恢复程序：条件试验之后10min内移到恢复箱，30min内完成恢复。气候试验顺序： 气候试验的顺序主要适用于各类元件， 为了在有要求时加以使用， 一般认为低温， 高温、 低气压和交变湿热试验之间有一定的联系， 并称之为气候顺序。进行这些试验的顺序如下: 一高温’一交变湿热( 上限温度为5 5℃的试验的第1 个循环) ;一低温’一低气压( 有要求时) ;一交变湿热( 上限温度5 5 ℃的试验的其余诸循环) 。 这些试验之间的时间间隔应不大于3d ， 但交变湿热试验第 一 循环与低温试验之间的时间间隔除外，这一 时间间隔包括恢复时间在内应不大于2h。测量通常只在气候顺序的开始和结束时进行. 另有规定者除外为了编制一组合理的、 能表示适用于元件的气候条件的基本代码， 建议如下 气候类型用斜线隔开的三组数字表示， 分别代表元件能承受的低温试验， 高温试验的温度和湿热( 恒定) 试验天数。 第一 组: 用两位数字表达元件工作的最低环境温度( 低温试验) 。 如温度在0℃以上，且为一位数， 则在前面加“ 十” 号。如为负温度， 且为一位数， 则在前面加“0” ， 以补够两位数。第二组: 用三位数字表达元件工作的最高环境温度( 高温试验) 。如为两位数， 则应在前面加“0”， 补够三位数。第三组: 用两位数字表达恒定湿热试验( C a ) 的天数， 如试验天数只有一位数， 则应在前面加“0” 字补够两位数， 如不要求将元件曝露子恒定湿热环境， 则用数字“ 0 0 ” 表示。为将元件归入某一类型， 该元件在接受该类型所规定的全套试验时， 必须符合相关规范的要求A归入5 5 / 1 0 0 /