ADI公司使用PXI与LabVIEW降低MEMS测试成本..docVIP

ADI公司使用 PXI与 LabVIEW降低 MEMS测试成本 使用PXI与 LabVIEW，我 们只使用了先前 ATE系统的一小部 分成本、重量、能耗 和封装，就测试了 MEMS设备。 - Woody Beckford, The Challenge: 开发高效率、高成本 效益的紧凑系统，用 于MEMS测试中的 生产与特征描 述。 The Solution: NI LabVIEW软件 搭配PXI模块化仪 器所建立的MEMS 测试系统，可同时进 行特性描述与生产测 试，与之前的自动化 测试仪器(ATE) 相比，可降低11倍 设备成本、减少15 倍设备体积、减轻 66倍设备重量，更 省下了16倍耗电 量。 图1. 使用 LabVIEW搭配 PXI仪器，我们创 建了生产测试系统， 可同时测试2组 MEMS设备，且速 度超过了先前的 ATE系统。 Author (s): Woody Beckford - Rob Whitehouse - Dan Weinberg - ADI公司介绍 ADI提供模拟、混 合信号以及数字信号 处理 (DSP)集 成电路 (IC)， 可针对光线、声音、 温度、运动，或压力 等信号，将它们转换 为电子设备所需的电 子信号。 我们公司 的IC几乎遍及了所 有领域，包括汽车、 相机、电视、移动电 话、医疗成像装置， 和工业级的自动化设 备。 过去20年来， ADI在微机电整合 系统(MEMS) 的惯性传感技术上投 入巨大。 身为 MEMS与微机械技 术的领导厂商， ADI开发了业界首 款iMEMS? (集成式微机电 整合系统) 加速计 与陀螺仪，可协助工 程师在设计中整合加 速度、倾斜、冲击、 振动、旋转，与多自 由度 (DoF) 的运动。 我们也提 供了多种惯性感测解 决方案，包含获奖的iMEMS加速计与陀 螺仪、iSensor?智能传感器、惯性测 量单位(IMU)、iMEMS数字麦克 风。 新款MEMS测试系 统的需求 对生产测试过程而 言，MEMS测试需 要克服种种挑战。 我们所需的ATE系 统必须满足我们的生 产测试需求，并以最 低成本确保产品质 量。 而我们所用的 传统“big iron”ATE解 决方案，不仅成本过 高、体积过于庞大， 且许多功能都用不 到，因此并不是满足 我们需求的专属 MEMS测试系 统。 我们需针对自 己的MEMS产品， 构建特定的应用测试 系统，并能囊括 ATE系统的所有测 量功能。 NI PXI与 LabVIEW提供 了现成可用的解决方 案 在使用NI产品之 前，我们已经评估过 多款系统，希望取代 传统的生产ATE平 台。 我们也希望能 够尽快使用现成技 术，以此降低自定制 解决方案的成本。 我们的测试平台也必 须具有足够的灵活 性，来满足自定制 MEMS测试需求， 且无需牺牲任何仪器 速度或性能。 NI的平台具备绝佳的测试 功能，可解决我们所 面临的难题。 作为 开放性的标准， PXI 10多年来 已在各个行业中得到 普及。 PXI具备 极高的灵活度与模块 化特性，可开发我们 所需的MEMS测试 系统，并随时重新设 定以满足多样的测试 需求。 若要在多个 地点进行测试，我们 只要插入更多模块， 无需变更现有软件， 即可复制测试资源， 从而根据传输量需求 来随时调整设备。 针对现有工具，软件 环境也要能轻松建立 操作、数据与编程设 计界面，从而将新的 ATE系统整合到产 线中。软件已广泛用于我们 的特性描述与设计实 验室，并可解决相关 难题。 我们本来也 考虑使用ANSI C或C++作为测试 软件，但在测试过 LabVIEW的多 项功能后，我们对 LabVIEW的性 能及其多核心技术印 象深刻。 我们使用PXI搭配 LabVIEW，开 发了新的生产测试解 决方案。 鉴于NI 的支持服务、产品完 整性，与遍布全球的 覆盖面，我们选择了 NI作为ATE的供 应商，也让我们所需 的主要测试设备均来 自于单一厂商。 NI在全球均有相关 领域的工程师与系统 设计团队，可随时支 持我们的开发。 灵 活的PXI系统搭配 简单易用的 LabVIEW，让 工程师可快速设计所 需的解决方案并制作 原型。 与之前的生 产ATE测试系统相 比，以PXI与 LabVIEW所搭 建的新测试系统，可 大幅减少测试次 数。 针对我们的 MEME设备，以 NI技术所部署的 PXI构架生产测试 解决方案，让我们颇 有信心。 使用NI现成技术的 主要优势 以PXI与 LabVIEW所构 建的MEME生产测 试系统，已大幅降低 了设备成本、体积、 重量与耗電量。 节约成本：与PXI新系统的总 成本相比，先前 ATE系