Near-fieldprobe..docVIP

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Near-fieldprobe.

Near-Field Probe Set General Description: 這套近場探棒有3支H-Field Probe 2支E-Field Probe組成,在這套設備中還有一至20cm長的延長杆,它適用於其中任何一支探棒。 H-Field Probe: 這套探棒包括3支不同尺寸和靈敏度的H-Field Probe.每個H-Field Probe 都包含一個環,這個環有一根50ohm的半剛性的同軸電纜。在同軸 電纜的外 面有一層平穩的遮罩層,這個環能高度抵制E-Field信號就歸功 於這個遮罩 層。 E-Field Probe: 這套探棒包括2支不同的E-Field Probe。它們被用來追蹤比如有不適當 的接地電路而産生的high-impedance fields。 The Ball Probe: 這個球狀探棒有一根50ohm的同軸電纜的杆和一個直徑爲3.6cm的 金屬球組成。這個球就是一個電場的接收器。 有單獨一根頂端有6mm的center conductor暴露在外的50ohm的半剛 性的同軸電纜組成。Center conductor作爲一個單極天線以獲得電場輻射。 因爲沒有環狀結構攜帶電流,所以能很好的抵制H-Field。 The Stub Probe: 由於小的感應元件的作用,stub probe很遲鈍。當必須精確的定位輻 射源的時候,這的確是一個優勢。即使是探測晶片的pin腳,在2,3個 pin腳只見移動都能有變化。它可以用來精確的定位信號源。 經過比較,ball probe要比stub probe靈敏的多,它的那個比較大的感應 元件不能像stub probe那樣對信號有很精確的定位,然而,它有能力跟 蹤比較弱的信號。 Probe 的性能: 所有的probe都在一個叫做TEM cell的377ohm的場中校準過。把這個場 假想爲一個阻值是377ohm的plane wave,畫出factor的圖是爲了能方便的 預估遠場的強度,如果想得到H-Field的amplitude,必須從圖上的factor上 減掉51.52dB. Probe Technical Data: Model Number Probe Type Primary Sensor Type E/H or H/E Rejection Upper Resonant Frequency 901 6 cm Loop H-Field 41dB 790MHz 902 3 cm Loop H-Field 29dB 1.5GHz 903 1 cm Loop H-Field 11dB 2.3GHz 904 3.6 cm Ball E-Field 30dB 1GHz 905 6 mm Stub Tip E-Field 30dB 3GHz Set-up Use: 首先,選用一個合適的probe,接著,把cable連接在probe和spectrum analyzer之間,如果需要延長手柄,則將它放在probe和cable之間。最後,必須把spectrum調整到能最好的表現測試信號。 Probe的選擇: 選擇一個正確的probe有五個要素決定:H-Field or E-Field:信號的強度;信號的頻率;probe要達到的空間的大小;將被定位的source的精確程度。 首先,主信號是H-Field還是E-Field,如果是E-Field,則用ball probe stub probe;如果是H-Field,則選用loop probe。如果不知道選哪個,則選用能最好的探測到信號的probe。 接著,必須要選擇一個能充分的接收信號的探頭。Ball probe 6 cm loop probe分別是最靈敏的E-Field和H-Field probe。Stub probe 1 cm loop probe是最不靈敏的。 如果信號頻率高於790MHz,有可能引起有些probe諧振,在Probe Technical Data裏列出了諧振的上限頻率。 爲了能探測到足夠小的空間,提供了多種不同大小的probe。最後,選擇一個最能接近的去區分source的probe。一開始,先選用比較大的probe開始探測,當靠近source時,可以換成更小的以便對source的位置有一個更清楚地瞭解。最小的probe可以探測到PCB上哪一條trace在輻射。 Common Diagnostic Techniques: Overview: 測試場地通常是open site or shielding room。大部分的最初的EMI測試可以用sniffer probe 和信號分析裝置就可以完成。 Procedure For Lo

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