太赫兹技术复合材料检测..docVIP

赫兹成像技术检测复合材料 摘要:目的–本文的目的是提出了各种情况下的复合材料的太赫兹成像技术的能力，也提出了一种新的缺陷检测算法。方法–本文首先讨论了应用在复合材料检测的太赫兹技术。然后介绍了太赫兹辐射源（光电导天线）和太赫兹时域成像系统的一般结构。接下来得到了复合防腐涂层、玻璃和增强碳纤维层合板的太赫兹成像结果。然后提出了信号处理和基于时域识别方案和A扫描信号的均衡和C扫描阈值方法。这样处理后的数据,被参数化与缺陷识别数据库做准备。所提出的方法使用玻璃纤维层压板分层示范性的检验结果进行了验证。最后，对太赫兹时域检测和低能量的数字射线照相做了对比。结果–说明太赫兹成像技术适合于复合材料结构的检验。得到了复合防腐涂层、玻璃和增强碳纤维层合板的太赫兹成像结果。提出了信号处理算法的应用能够准确的缺陷检测和有效的数据收集识别数据库的目的。结论–本文洞察各种复合结构的太赫兹成像的可能性，提出的信号处理和缺陷检测方案适用于广泛的复合材料结构。 关键词 无损检测、复合材料、图像处理、信号处理 1.引言 复合材料具有高耐腐蚀、足够的刚度和高强度重量比的特性，所以在现代工业得到广泛使用。复合材料应用在风力涡轮机、坦克、汽车、海洋和航空结构。超声波、涡流法、微波技术、光学方法和温度记录是常用的对复合材料进行无损检测的技术。由于异构结构的复合材料(多层性质和纤维波纹)中发现的缺陷不同于金属中的缺陷。断层的探测和识别使得任务更加复杂。先进的无损检测技术如太赫兹光谱或低能量数码摄影(DR)成为可能非常精确表征缺陷位置,因为高空间分辨率。特别是,太赫兹技术能够评估复合材料层合板的内部分层。 太赫兹技术用于检查复合材料 太赫兹电磁辐射能够非侵入式的、非电离和非接触式的检测介质材料,如:塑料、枯木、炸药陶瓷、泡沫材料和复合材料,尤其是不导电的增强纤维。T-Rays对折射率敏感。任何影响折射率的缺陷都可以观察到，比如： 。空隙;。分层;。夹杂物;。非均质分布材料(纤维/基体分布);。表面粗糙度;。纤维波纹;。内部层之间的分层(在分层结构) 在大多数情况下,缺陷是基于脉冲太赫兹时域光谱(TDS)反射和透射成像被检测的。该方法非常适合评估分层材料。每个不同层之间引起入射太赫兹脉冲的反射和衰减的传播。传播脉冲和它们的回声(延迟层反射)延迟的差异能够表征厚度特征和内部结构的状态。非常短的脉冲(皮秒)包含宽的频率带宽(0.05-3太赫兹),因此,有可能把一个单点宽带测量。太赫兹TDS系统的主要组件:。两个传感器(发射机和接收机);。超快速激光;。光学延迟线。 太赫兹脉冲是通过光电导天线(PCA)产生的(Gregory et al .,2005)。这种设备的简化视图如图1所示。太赫兹发射机的主要部分是一个电极间隙的双三角形天线,然后用飞秒激光脉冲照射。这样的激励和外部的直流偏压引起脉冲电流通过金属天线的一部分。瞬变的光电流会辐射THz波。由此产生的领结天线辐射THz波通过高电阻率半球形硅透镜平行辐射出,然后由高密度聚乙烯表面镜头聚焦。脉冲太赫兹的简化方案TDS系统如图2所示,使用设备测量得到的视图如图3所示。Picometrix TRay4000成像系统提供3 GHz的频率分辨率和更少超过500微瓦平均功率的太赫兹光束。TDS的横向分辨率技术是小于200微米和深度分辨率小于50微米(Zimdars et al .,2005)。 Figure1.Terahertz photoconductive transmitter Figure2. Scheme of pulsed terahertz TDS system Figure 3. View of pulsed terahertz TDS system 太赫兹时域光谱技术测量和数据分析的结果 太赫兹时域成像与超声技术相似提供各种数据收集类型：A-scan,B-scan C-scan。所有类型都在图4上。A-scan是一个单点(x,y)测量获得的信号-时间相关波形S(x=常量,y=常量，tD)由反射或透射脉冲组成。脉冲携带了关于检查结构振幅和相位以及检查时间距离的信息。B-scan 的S(x,y=常量，tD)是由一系列A-scans获得一行(1 d)扫描组成(图4)。 Figure 4. Data collection types in terahertz time domain method 对表面检查需要获得一个3 d信号S(x,y,tD)。对于给定tD的值的一片扫描构成了C-scan - S(x,y,tD=常量)。检验标本的深度z对应于tD延迟时间的值,因此我们可以说,C-scan可以检测深度。 脉冲太赫兹TDS