紅外分光光度法测定粉尘中游离二氧化硅含量.docVIP

红外分光光度法测定粉尘中游离二氧化硅含量 1 实验部分 1.1主要仪器与试剂 　　红外分光光度计：TJ270-30A型 　　压片机及磨具：FW-4A型 　　电子天平：感量0.01mg 高温电炉：SX-4-10型 电热干燥箱：GZX-9070MBE型 　　光谱纯溴化钾 　　标准α-SiO2：纯度在99％以上。 1.2　实验方法 (1)样品的采集 　　现场样品采集按GBZ 159《工作场所空气中有害物质监测采样规范》执行。 (2)样品处理 　　沉降尘处理：粉尘样品放在105℃±3℃的烘箱内干燥2h，稍冷，贮于干燥器备用。如果粉尘粒子较大，需用玛瑙研钵研磨，并用200目筛子筛选。准确称取筛选后的样品质量(m)置于高温电炉(低于600℃)内灰化30min，冷却后，放入干燥器内待用。 　　滤膜样处理[2]：用差减法准确称量采样后滤膜(过氯乙烯滤膜)上粉尘的质量(m)，然后放入瓷坩埚内，置于高温电炉(低于600℃)内灰化30 min，冷却后，放入干燥器内待用。 　　称取一定量的溴化钾(使溴化钾和粉尘总质量为250mg)放入瓷坩埚内和灰化后的粉尘充分混匀，连同压片磨具一起放入干燥箱(110±5℃)中10 min。将干燥后的混合样置于压片磨具中，加压20MPa，持续3 min，制备出的锭片作为测定样品。对于滤膜样，须同时取空白滤膜一张，同上处理，制成样品空白锭片。 (3)石英标准曲线的绘制 　　准确称取10.00 mg标准α-SiO2与990.00 mg溴化钾放入玛瑙研钵中，加入一定量的无水酒精，进行湿式研磨。充分研磨后进行烘干，配制成10 μg/mg标准α-SiO2混合样。准确称取不同质量(含标准α-SiO2：0.01mg～1.00 mg)的标准α-SiO2混合样，混入研磨好的溴化钾，使其总质量达到250 mg，制成锭片进行检测。根据α-SiO2对800、780、694cm-1波数的红外光具有特异性强的吸收带，以标准α-SiO2质量为横坐标，800 cm-1吸光值减去830 cm-1吸光值为纵坐标，绘制标准曲线，并求出标准曲线的回归方程。 (4)样品的测定 　　分别将样品锭片与样品空白锭片进行扫描，记录830、800 cm-1处的吸光值，由α-SiO2标准曲线得样品和空白锭片中游离二氧化硅的质量。 (5)结果计算 ——粉尘中游离二氧化硅(α-SiO2)的百分含量，% m1——测得粉尘中游离二氧化硅(α-SiO2)质量数值，mg m2——测得空白中游离二氧化硅(α-SiO2)质量数值，mg(对于沉降尘m2＝0) m——粉尘样品质量数值，mg 2、结果与讨论 2.1　标准α-SiO2谱图 　　二氧化硅种类繁多晶型复杂，主要有α-SiO2、β-SiO2和无定型SiO2等。但只有α-SiO2在800、780、694cm-1波数下有明显的吸收带，如图1所示. 图1：标准α-SiO2谱图 2.2　样品量的选择 　　测定游离二氧化硅含量，要选择适量的样品量。如果样品量过少，可能会接近或低于检测下限；如果样品量过大，一是增大干扰物质，二是定量吸收峰可能超出线性范围而导致检测结果偏低。取样量按含量高取样少原则进行取样，具体取样量按表1进行取样。 表1　样品取样量的选择 α-SiO2含量范围 样品取样量m／mg α-SiO2：≥75％ 1～1.33 α-SiO2：50％～75％ 2～1.33 α-SiO2：10％～50％ 2～10 α-SiO2：≤10％ 10 2.3　标准曲线的绘制 　　分别称取0.0、11.83、27.72、50.70、75.41、100.85 mg标准α-SiO2混合样，并加溴化钾至250 mg，混匀后，装入压片模具，制成锭片。在900～600cm-1波数进行扫描，吸光值如表2所示。 表2　标准α-SiO2的吸光度值 每片锭片含α-SiO2质量/mg 830 cm-1吸光度A1 800吸光度A2 A2-A1 0.0000 0.1781 0.1797 0.0016 0.1183 0.2078 0.2336 0.0258 0.2772 0.2255 0.2757 0.0502 0.5070 0.2398 0.3278 0.0880 0.7541 0.2589 0.3938 0.1349 1.0085 0.2540 0.4321 0.1781 　　由于样品的背景吸收使扫描基线抬高或降低，从而影响定量峰的定量，所以必须对定量峰进行修正，结果表明在三个定量峰中，用800 cm-1的吸光值减去830 cm-1的吸光值来进行线性线性回归效果最好，同时也避免了由于背景漂移带来的影响。其线性回归方程为：y=0.1738x+0.0026(x:样品含量，mg；y：吸光值),线性相关系数为0.9996,利用得到的标