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* Trace/Fourier * 或者在仿真参数设置对话框里点击“Output file options” * 基频100Hz,谐波次数10,分析变量I(R1) * 设置坐标轴Plot/Axis Settings * 横坐标设置为0-1000Hz View/Output File或者快捷按钮,可以打开输出文件看傅里叶分析结果 * 增大仿真时长,可得到准确的分析结果 * 电流波形和FFT结果 * 参数扫描 电路中某一个参数作为扫描量 时域扫描、直流扫描、交流扫描都提供了该功能 可以看出某参数对电路的影响,并可以确定最佳参数 需要放置参数元件:PARAM(SPECIAL库中) * RL阻值是变化的,其值为{RL} * 设置PARAM属性 双击,点击“New Column” * 分析参数设置方法 主扫描参数(其值始终不变,即V1=10V) * 选择“Parametric Sweep”参数扫描 1000至2000欧姆 步长100欧姆 * 分析,Trace/Add Trace,选择功率曲线I(RL) * 介绍其他分析方法 容差:容许误差 容差分析:研究元器件参数的误差对响应的影响,或者反之,给定电路响应的公差求元器件参数的公差 蒙特卡洛分析 最坏情况分析 温度分析 噪声分析 容差分析的方法 * 蒙特卡洛分析 统计模拟方法,给定元器件参数容差的统计分布规律,用一组随机数求得元器件参数的随机抽样序列,估算电路性能的统计分布规律 时域分析、直流扫描、交流分析均有该功能 * 最坏情况分析 最坏情况:元器件参数在其容差域内取某些组合时所引起的电路性能误差最大 最坏情况分析:各个元器件参数同时按容差范围内各自的最大变化量改变,估算电路特性相对理想情况下的最大偏差 如果最坏情况满足设计要求,则方案一定可行 与蒙特卡洛分析功能在一起 * * 温度分析 元器件的参数与温度有关,PSpice中的元器件参数都是在常温(27摄氏度)情况的 在四个基本分析功能(时域、直流、交流、直流工作点分析)里都有辅助的温度分析功能 低于绝对零度(-2730C时不能模拟) * 噪声分析 与交流分析一起使用 电阻的热噪声、半导体器件的散粒噪声、闪烁噪声 在交流分析的每个频点上对指定输出端计算等效输出噪声,对指定输入端计算等效输入噪声 * PSpice仿真总结 运行Capture CIS,建立工程,绘制电路图 创建仿真设置文件New simulation profile 运行分析程序,输出结果 对结果观察、运算、标注 保存或打印输出结果,波形窗口执行Window/copy to clipboard,可将波形拷贝到剪贴板,粘贴到文档中 * 应用篇 电路与磁路分析 模拟电路 数字电路 模数混合电路 * 模拟电路 半导体器件特性 放大电路 含集成运放电路 正弦波振荡电路 直流稳压电源 * 主要的模拟器件 名称 类型 名称 类型 D1N750 稳压二极管 J2N3819 N沟道JFET MV2201 压变电容二极管 J2N4393 N沟道JFET D1N4002 功率二极管 IXGH40N60 N沟道JFET D1N4148 开关二极管 LM324 线性运算放大器 MBD101 开关二极管 LF411 JFET输入级线性运放 Q2N2222 NPN型BJT uA741 线性运算放大器 Q2N2907A PNP型BJT LM111 线性运算放大器 Q2N3904 NPN型BJT IRF150 N型功率MOSFET Q2N3906 PNP型BJT IRF9140 P型功率MOSFET * 半导体元器件---二极管 二极管电路 正弦电压源VSIN * 输出电压波形 * 半导体元器件---二极管 将二极管倒过来 * 改变三极管模型参数 从器件库中调出的元器件参数是一定的,不一定满足我们的要求,可根据需要加以修改. 例如将三极管Q2N2222修改为β=50:选中三极管Q2N2222,执行Edit/Pspice Model命令,出现三极管Q2N2222的模型参数,修改为Bf=50(即β=50). 用该方法可改变场效应管的gm,VT,稳压管的稳压值VZ等. * 放大电路----基本共射 * 设置放大系数 改为β=100 * 电压放大 输入输出波形 * 直流分析 对象为直流电路 将某些参数作为扫描变量 仿真结果给出电压、电流等随扫描变量的变化 扫描变量有:电压源电压、电流源电流、阻值、温度、其他 * 设置分析类型为DC Sweep 电压源电压为扫描变量,电压值从1V增加到21V,步长5V * 放置探针Probe 放置电压、电流探针 * 仿真结果 * 解释 二端元件首节点标为1,末节点标为2 V(R1:1):电阻R1的首节点 V(R1:2):电阻R1的末节点 V(R2:1,R2:2):电阻R2两端电压(
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