1、平均值－极差控制图.pptVIP

★根据数理统计的中心极限定理，任意总体，不论其分布状态如何，若总体的平均值和标准偏差存在，则随机变量的样本平均值的分布状态，随着样本数的增大而逐渐趋近于正态分布。 (3)控制图原理 当质量特性值X服从总体为N（μ，σ2 ）的正态分布时，n个样本X1，X2 …Xn 的平均值有如下性质： 其平均值仍趋于正态分布，且有的数学期望 ，标准偏差S， μ的估计值为 。 样本极差R的分布 由数理统计原理，若总体的分布服从正态分布X～N（μ，σ2 ），则样本的极差R的分布也趋于正态分布，且R的数学期望E(R)=d2σ, 即 ， 为样本极差的平均值； R的标准偏差为σ(R)=d3σ， d2,d3-由样本容量确定的系数 可得到σ的估计值为 （4） 控制图的中心线和上下控制界限 均值-极差图的联合使用 (6) 控制图的作法 ⑴作图前的预备工作 ①质量特性选择 ②生产过程分析 ③收集数据 ④数据分组 ⑵数据初步统计 ⑶计算控制图的中心线和上、下控制界限 ⑷作 控制图 (7)控制图的意义和作用 ?意义 R控制图上的点表示质量波动幅值的变化，或质量特性值分布的离散程度的变化，表示产品质量的均匀程度，一个生产过程的均匀程度越好，R值就越小 控制图上的点表示质量波动的水平或质量特性值分布中心的移动。 ?作用 应用于过程监视和过程控制。 过程监视：是指通过此控制图可以随时了解过程的质量状况，一旦出现异常，可以及时报警。 过程控制：是指通过此控制图对异常情况的报警，可以及时提醒人们去分析产生异常的原因，进而采取纠正措施和预防措施，消除和避免异常波动，达到控制过程稳定的目的。 2、中位数－极差控制图( ) 3、单值－移动极差控制图（X－Rs） 单值－移动极差控制图是将单值控制图和移动极差控制图配合使用的控制图，一般把单值控制图画在移动极差控制图上方，数据不用分组，可以直接使用。 一般用于以下场合： ①从工序中只能获得一个测定值； ②一批产品内质量特性数据是均一的，不需要测取多个值； ③因费用等关系只允许测取少量数值； ④数据的取得需要很长的时间间隔。 （2）控制界限的计算 根据控制图的基本原理，得到控制界限计算公式： 1、计件值控制图（Pn及P控制图） 理论基础 由概率论知识可知：从一批稳定状态下生产的大量产品中，随机抽取样品数为n的样本，若以p代表出现不合格品的概率，则pn就表示样品中的不合格品的个数，若以Pn作为记号，那么Pn就服从二项分布，即， Pn~B(n,p) 且当np≥3时可将二项分布近似看作正态分布，这是P控制图和Pn控制图的理论基础。 （1）不合格品率控制图（P） ②作图步骤 ?收集数据 ?计算平均不合格品率 ?计算控制界限 ?绘制P控制图 ③中心线及上下控制界限的意义 对于计数值控制图来说，实际起作用的是上控制 界限，打点超出上控制界限则表明生产过程发生 不良变化； 中心线只表明不合格品率的平均水平； 下控制界限只是用来检查生产过程是否发生好的 变化，一般不画出下控制界限。 （2）不合格品数控制图（Pn） ①应用范围 Pn控制图用于对产品不合格品数控制的场合， 它是通过控制产品的不合格品数的变化来控制 质量的。 Pn控制图样本容量必须为定值。 ②控制界限的计算 ③作图步骤 例：某手表厂为了控制产品的质量情况，每天 抽查200个机芯进行检查，下表是某月内25个工 作日的测试记录，试用控制图反映产品的质量情 况。 2、计点值控制图（C及U控制图） 生产中产品上的缺陷数常服从泊松分布，而当泊松分布 的参数λ≥3时，泊松分布近似正态分布。 （1）缺陷数控制图（C） C控制图主要用于判断生产中设备或产品缺陷数 是否处于所要求的水平，通过对样本缺陷数的变 化来进行控制，它要求样本量是固定的。 ①控制界限的计算 （2）单位缺陷数控制图（U） ①控制界限的计算 U控制图中用u表示单位缺陷数，u=c/n c为样本缺陷数，n为以检验单位数表示的样本大小。 则U控制图的控制界限为： ②作图步骤 例：某厂在生产过程中收集的漆包线外观缺陷针 孔数据，试作出控制图。 （1）受控状态的判断 ①控制图上的点子不超过控制界限； ②点子在控制界限内的排列是随机的，无排列缺陷。 对于处于良好受控状态的工序，还可以增加三个条件： ①点子分布均匀，位于中心线两侧的点子各占50％； ②靠近中心线的点子约占2／3； ③靠近控制界限的点子极少。 总之，控制图的判断一般是依据数理统计中的 “小概率事件”的原理。 ⑴连续25点以上位于控制界限内； ⑵连续35点中出现在界限外的最多有一点； ⑶连续10