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三、简答题 1. [T] BA005 3 4 2 超声场分为哪几个区域？为什么要尽量避免在近场区探伤定量？[T/] [D] 答：超声场可分为：1）主声束和付瓣：声源正前方声能最集中的锥形区域既为主声束，声束付瓣通常出现在邻近探头晶片的一个区域内，旁侧于主声束。2）近场：指主声束中心轴线上最后一个声压极大值处至晶片表面这一区域。3）远场：近场以外的区域称为远场。4）未扩散区：声源附近的主声束截面直径相同，波束不扩散的区域与远场分界点的一段距离称为未扩散区，分界点至晶片表面的距离约为近场长度的1.6倍。（）（）在超声波反射法检测中为什么要使用脉冲波？可使瞬时内发射能量很大，而总能量不大0.2）；可做时标用，测量超声波在工件中的传播时间，从而对缺陷进行定位0.2）；不是单色波，可克服缺陷厚度对超声波反射率与透过率的影响0.2）；可显著减少入射波与反射波之间干涉区的长度0.2）；从工程技术上比较容易制造出脉冲波的超声波检测仪0.2）。[D/] 3. [T] BA008 3 4 4 当纵波从水入射至钢界面时，声压透射率t大于100%，这与能量守恒定律有矛盾吗？[T/] [D] 答：没有矛盾，因为声强和声压之间的关系是I=P2/2Z。（0.5） 声强不仅与声压有关，而且与介质的声阻抗有关，由于钢的声阻抗大于水的声阻抗，所以尽管透射波有较高的声压，但透射波的声强仍然比入射波的声强小得多。仍然符合入射声能等于反射声能与透射声能之和。（0.5）[D/] 4. [T]BA010 3 4 1 什么叫衰减？产生衰减的原因是什么？[T/] [D]答：超声波在介质中传播时随着距离的增加、能量逐渐减小的现象称为衰减（0.5）。产生衰减的原因是：扩散衰减，散射衰减，粘滞（吸收）衰减（0.5）。[D/] 5. [T]BA012 3 4 2 试分析晶片尺寸D的大小对探伤的影响？[T/] [D] 答：1）由θ0=arcsin-11.22λ/D可知，晶片尺寸增加，半扩散角减小，波束指向性变好，超声波能量集中，对探伤有利（0.4）。 2）由N=D2/4λ可知晶片尺寸增加，近场区长度迅速增加，对探伤不利（0.2）。 3）晶片尺寸大，辐射的超声波能量大，探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对减小，发现远距离缺陷能力增强（0.2）[D/] 6. [T] BA013 3 4 2 简述在超声波探伤中应用了超声波的哪些主要性质？[T/] [D] 答：主要性质有：1）超声波方向性好（0.25）；2）超声波能量高（0.25）；3）能在界面上产生反射和波型转换（0.25）；4）超声波穿透能力强（0.25）。[D/] 7. [T] BA019 3 4 3 探伤仪主要的性能指标有哪些？哪些探伤特性受接收放大电路的影响？[T/] [D] 答：主要指标有：1）灵敏度；2）水平线性；3）垂直线性；4）动态范围；5）分辨力；6）声噪比等（0.5）。 受接收放大电路的影响的因素有：1）灵敏度；2）垂直线性；3）动态范围；4）阻塞区；5）噪声电平；6）分辨力（0.5）。[D/] 8. [T] BA041 3 4 2 斜探头是由哪几个部分组成的？各部分有何作用？[T/] [D]答：斜探头是由插座、外壳、阻尼块、压电晶片、斜契等部分组成（0.5）。 各部分作用是：1）插座：使用高频电缆线与仪器连接。2）外壳：支撑和保护探头内的元件。3）阻尼块：降低晶片背面超声脉冲幅度及长度，改善探头内噪声，提高探头的检测能力。4）压电晶片：发射接受超声波信号。5）斜契：与试件材料组成异质界面，使超声波产生折射，倾斜入射试件材料进行探伤。（0.5）[D/] 9. [T]BA045 3 4 4 简述超声波探伤的优点和局限性？[T/] [D] 答：优点是：超声波探伤可检测厚度较大的材料，且具有检测速度快费用低，并能对缺陷进行定位定量，对人体无伤害，以及对危害性较大的面积性缺陷的检测灵敏度较高的优点。（0.5） 局限性是：主要表现在：一般的超声波探伤的记录性差，不能比较直观的判断缺陷的几何形状、尺寸和性质，超声波探伤技术难度较大，其效果和可靠程度往往受到操作人员的责任心、工作时的精神状态及技术水平的高低的影响。（0.5）[D/] 10. [T] BA045 3 4 2 超声波探伤利用超声波探伤的哪些特性？[T/] [D] 答：1）超声波有良好的指向性，在超声波探伤中声源的尺寸一般都大于波长数倍以上声速能集中在特定的方向上，因此可按几何光学原理判定缺陷的位置（0.25）； 2）超声波在异质界面上将产生反射、折射、波形转换，利用这些特性可以获得以缺陷等异质界面反射回来的反射波及不同波形从而达到探伤的目的（0.25）； 3）超声波探伤中由于频率高固体中质