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活度计量校准技术介绍 国防科技工业电离辐射一级计量站 1 内容 一、计量和校准 介绍两个概念 计量标准 校准方法 二、测量方法 绝对测量方法 相对测量方法 三、校准方法 标准物质 仪器校准 样品校准 2 介绍两个概念 检定——由法定计量技术机构确定并证实测量器具是否完全满足规定要求而做的全部工作。 （1）检定结果应对测量器具做出合格与否的结论。 （2）检定包括将测量器具的示值与对应的测量标准所复现的量值进行比较的一组操作，当两者的差值小于相关的检定规程所规定的最大允许误差即为合格。 校准——在规定的条件下，为确定测量仪器、测量系统所指示的量值或实物量具、标准物质所代表的量值与相关的测量标准所复现的量值之间的关系的一组操作。 （1）校准结果可以给示值赋值，也可确定示值的修正值。 （2）校准还可以确定其他计量特性，如影响量的作用。 （3）校准结果可以记录在校准证书等文件中。 （4）有时用修正值或校准因子、校准曲线来表征校准结果。 计量标准 开展计量校准，先要建立计量标准，包括： 标准装置 测量标准方法 标准样品 4 校准方法 依据的校准规范 标准物质 测量仪器 校准结果 5 绝对测量方法 4π??（??）?符合测量方法 简单衰变核素的活度测量 复杂衰变核素的活度测量 数字符合测量方法 气体绝对测量方法 2π?、2π?表面发射率标准装置 井型NaI(Tl)和峰测量125I活度测量125I活度 4πγ（NaI)测量多γ射线核素 量热计 活度测量方法 TDCR等液体闪烁计数方法 2017-4-9 6 7 4π???符合测量方法 ?-?符合法是由P.J.Campion等人于五、六十年代发展起来的一种绝对测量方法，这种方法最初主要用于测量如60Co等简单?-?衰变核素的活度测量，后来又由Campion、Cox等人发展了效率外推法和效率示踪技术，可分别用于复杂?-?衰变和纯?衰变核素的活度测量。 8 原理简介 符合事件：两个或两个以上同时发生的事件 对于放射性核素：例如β-γ的级联 符合法就是利用符合电路来甄选符合事件的方法 任何符合电路均有符合分辨时间τR,实际上符合事件就是相继发生的时间间隔小于符合分辨时间的事件，或者称同时性事件 真符合和偶然符合 具有内在关联，为真符合 不具有内在关联，或者两个独立事件，则为偶然符合 反符合 利用反符合电路来消除符合事件的脉冲 应用，例如反符合绝对测量方法、反康谱仪等，用来消除或减少辐射本底的影响 延迟符合 将一个事件延迟一定时间，与第二个事件符合 例如，飞行时间技术 偶然符合nrc与符合分辨时间τ的关系 通过测量没有符合关系的?和?信号之间的偶然符合计数是测量符合分辨时间的方法之一 第一道平均计数率为n1 第二道平均计数率为n2 分辨时间为τ nrc=2 τn1n2 τ=nrc/(2 n1n2) 4π???符合测量装置技术框图 4π?（pc)??(NaI(Tl))符合测量标准装置 计数器 14 ?探测器：?π?（pc)正比计数器 坪长应大于300V，坪斜小于0.5%/100V（对60Co）；装置的死时间和符合分辨时间的测量结果的不确定度应小于0.1?s 4π（ppc)正比计数器 4π（LS) 计数器 γ探测器： NaI（Tl）： ?道的能量分辨率应优于12%（137Cs） HPGe 15 16 符合电路分辨时间测量 17 延迟符合（分辨曲线）法 18 测量方法可选 核参数法 适用于简单衰变核素活度测量 效率外推法 适用于简单或复杂衰变核素活度测量 效率示踪方法 适用于纯?核素和137Cs等亚稳态核素，示踪核60Co、134Cs 核参数法 对于简单衰变核素，设N0为待测样品在单位时间内的衰变数即活度，N?为?道的计数率，N?为?道的计数率，Nc为符合道的计数率，??、??分别表示?道和?道的探测效率，则有： (1) (2) (3) 由式(1)、(2)、(3)可得： (4) 主要修正因素： 1、本底 n=n’-nb 2、死时间 ? 死时间修正公式 死时间? （又称为测量分辨时间）可以采用双源法和双脉冲产生器测量 3、偶然符合修正 ?R是符合