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第六章 宏观应力测定 引言 单轴应力测定原理 平面应力测定原理 试验方法 试验精度的保证及测试原理 的适用条件 6－1 引言 内应力是指产生应力的各种外部因素撤除之后材料内部依然存在、并自身保持平衡的应力。通常分为三类（如下表）： 第一类内应力； 第二类内应力； 第三类内应力。 第一类内应力又称宏观应力，在工程上常把宏观应力称为残余应力。 X射线测定宏观应力的实验依据是物体中残余应力会使晶面的衍射线产生位移。 宏观残余应力测定方法还有：电阻应变片法、机械引伸仪法、超声波法等。X射线法与这些方法相比，具有如下特点： 它是有效的无损检测方法； 它所测定的仅仅是弹性应变，而不含有范性应变（范性变形不会引起衍射线位移）； X射线照射面积可以小到1～2mm直径，因此它可测定小区域的局部应力； 只能得到表面应力，且精度受组织因素影响很大。 6－2 单轴应力测定原理 在拉应力?y的作用下，正好与拉伸方向垂直的试样中某晶粒的（hkl）晶面，其晶面间距将由d0扩张为dn′，则其应变为： 根据弹性力学原理，其应力： 直接测定?y是很困难的，但对于均质材料： ?为泊松比。对于多晶体试样，总可以找到若干个晶粒的（hkl）晶面与试样表面平行，这些晶面的晶面间距变化是可测的： 因此 6－3 平面应力测定原理 由于X射线的穿透能力有限，只能测到10～30?m的深度，此时垂直于表面的应力分量近似为零，即测得的是接近二维平面应力。 根据弹性力学原理，在一个受力物体内，在任一点上总可以找到三个互相垂直的方向，使得与三个方向垂直的各平面上切应力为零，仅存在三个相互垂直的主应力?1、 ?2 、?3。垂直于试样表面的应变?3 在二维应力下，主应力?1、 ?2与试样表面平行，表层主应力?3＝0，但在?1和 ?2 的作用下，垂直于试样表面的应变?3并不为零，当材料各向性时： ?3可由平行于表面的某晶面间距d值的变化测定，即： 前面推导出的公式得到的是正应力之和，但工程中通常需某个方向上的应力，如与?1夹角为?的OB方向（图6-3）的应力??，其测定步骤为： 1、测定应变?3。由平行于表面的（hkl）晶面的面间距变化求出： 2、测定与表面呈任意的?角方向上的（hkl）晶面的应变??。它由法线与试样表面法线成?角的那些（hkl）晶面的间距变化求出，如图6-4(b)： 3、对于各向同性的弹性体，根据弹性力学原理： 将?? 、?3代入上式： 用dn代替d0： sin2?法基本原理 根据前述两个公式可得到下面的第三个公式： 对第三式求偏导： 对布拉格方程进行微分： 即： 因为 ，所以： 将上式简写为： 式中 ，当晶体材料已知、反射面（hkl）和入射线波长?一定时K1为常数，可以看出上式实际为一直线方程，直线斜率就是M 当M0时， K1 0，则?? 0，材料表面为压应力； 当M0时， K1 0，则?? 0，材料表面为拉应力。 sin2?法一般测4个或以上的?角下的2?? 关于应力常数K1 K1属于晶体学特性参数，它是sin2?法的应力常数； ，其中?/180是为将2?角转换为弧度而加进的，与晶体材料及其特性有关，E是材料的弹性系数（模量），?是材料的泊松比。该项可通过计算或实验得到： 当材料各向同性，应力测量精度要求不高时，可采用工程数据计算； 当要精确测量应力时，可通过实验确定或查表得到。 2?0与所选反射晶面（hkl）和辐射波长?有关 6－4 试验方法 原则上可采用照相法和衍射仪法来测定宏观应力，但照相法效率低、误差大，现在一般不使用，多用衍射法。 衍射法通常包括衍射仪法和应力仪法，其中应力仪可对工件进行现场检测。 衍射仪法是通用的方法，主要掌握其测量步骤、几何原理和实施方法。 衍射仪法测量步骤 1、测定?＝0?时的2?0 2、测定?为任意角时的2??，一般选取?＝15?， 30? ，45? 进行测量，当然也可以选测其它角度或更多的角度； 3、用2?? - sin2?作图，求出直线斜率M； 4、求应力常数K1； 5、计算??＝ K1M 衍射仪法测量几何 采用衍射仪测量应力的实施方法 采用衍射仪测量应力时，怎样实现?的改变？其方法是选择适当的衍射仪的测角仪驱动方式，采用多次测量，选择多少个?角就测量多少次， ?的改变是通过样品台绕测角仪轴独立旋转来实现的： 当?＝0?时，试样表面法线Ns与反射晶面(hkl)法线Np重合，如要实现?＝15?，将样品台绕测角仪轴旋转15?，使试样表面法线Ns’相对于?＝0?时试样表面法线Ns间的夹角为15?，这时Ns与晶体中另一组(hkl)晶面法线Np’重合，在新位置上，试样表面法线Ns’与所选