第八章 超微颗粒的基本测试方法简介-1幻灯片.pptVIP

电子显微镜分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号，分析试样的微区形貌，晶体结构与晶体惯态以及化学组成。它包括用透射电子显微镜进行的透射电子显微分析，用扫描电子显微镜进行扫描电子显微分析，用电子探针仪进行的X射线显微分析等。其中扫描电镜拍摄照片是立体形貌，具有直观性和形像性，而透射电子显微镜拍摄的是平面形貌。相比较透射电镜的放大倍数与分辨率会更高一些。 电子显微镜分析 电子显微分析是材料科学的重要分析方法之一，与其它的形貌、结构、成份分析方法相比，电子显微分析具有多方面的优势。如可以在极高极大倍数下直接观察试样的形貌、结构，选择分拆区域；可对微区进行分析，分辨率可达0.2-0.3nm，可直接分辨原子，能进行纳米级的晶体结构及化学组成分折。 目前，各种电子显微仪日益向多功能、综合性方向发展，可进行形貌、物相、晶体结构和化学组成等综合分析。 利用电镜测量超微颗粒的操作，只要将试样放人电镜样品室，然后调至一定的放大倍数，即可直接观测样品的形貌与粒径。为了使测量更准确，要进行全场扫描，然后抽样拍照。此外，如采用高分辨电镜，还可以观察超微颗粒的晶体结构与晶体惯态。将电子探针引入测试样品室，可以同时确定测量试样的化学成分。 Journal of Catalysis 203, 82–86 (2001) * * 第八章 超微颗粒的基本测试方法简介 X 射线