数字信号处理作者尹为民12-3.3频域抽样定理+3.4DFT计算线性卷积课案.pptVIP

§3.3 频域抽样定理 一、频率抽样理论 一、频率抽样理论 一、频率抽样理论 一、频率抽样理论 二、有限长序列频谱的抽样的恢复 二、有限长序列频谱的抽样的恢复 二、有限长序列频谱的抽样的恢复 二、有限长序列频谱的抽样的恢复 二、有限长序列频谱的抽样的恢复 § 3.4 用DFT计算线性卷积 一、 两个有限长序列的线性卷积 一、 两个有限长序列的线性卷积 二、有限长序列和无限长序列的线性卷积 2.1 重叠相加法（overlap add） 既然N个频域采样X(k)能不失真地代表N点有限长序列x(n)， 那么这N个采样值X(k)也一定能够完全地表达整个X(z)及频率响应X(ejω)。 这就是用N个频率采样X(k)来表示X(z)的内插公式。 即内插函数在单位圆的N等分点上（也即采样点上）有N个零点。 而分母为零，则有z=WN-k的一个极点，它将和第k个零点相抵消。因而，插值函数Φk(z)只在本身采样点r=k处不为零，在其他（N-1）个采样点r上（r=0, 1, …, N-1，但r≠k）都是零点（有（N-1）个零点）。而它在z=0 处还有（N-1）阶极点。 上面讨论了由N个频率抽样X(k)恢复X(z)的插值公式；下这里讨论频率响应的插值。 本节要讨论的是，这样采样以后是否仍能不失真地恢复出原序列x(n)。 也就是说，频率采样后从X(k)的反变换中所获得的有限长序列， 即xN(n)=IDFT