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模拟电路实验报告——电路元件伏安特性实验室名称:科B116实验名称:电路元件伏安特性实验目的:了解测量电路元件VCR特性的逐点测试方法;学习半导体管特性图测方法的基本原理;掌握用晶体管特性曲线求参数的方法。实验内容:电路元件的VCR特性的逐点测试方法测量线性电阻的VCR特性选择一个线性电阻插入插座中,在电阻两端逐渐增加电压至5V,观察波形。根据波形,绘出该电阻的特性曲线。注:测试时功耗电阻置于1k半导体二极管的VCR特性测试方法在同一座标上绘出二极管正反向特性曲线。并测试出以下参数:(a)正向导通(门槛)电压。(b)反向稳定电压Vz(IR=5mA时)。(c)反向电流IR(VR=5V时)。测量晶体管的输出特性BJT的共射输出特性曲线的逐点测试方法:(a)调节图示仪有关控制件,测绘输出特性曲线。(b)在曲线上标出饱和区、截止区和放大区。(c)设VCE =5V,适当选择和记录IBQ,测量。测试过程:每固定一个iB值,改变Ec使uCE从零逐步变化到某一定值,测出一组uCE—iC的值,描绘出一条iB为一固定值的iC=f(uCE)的曲线;再改变一个iB值,重复上述过程,可得到另一条曲线。以此类推,便可得到不同iB时对应的一组共发射极晶体管的输出特性曲线。实验原理:图示仪原理框图:用集电极扫描电压代替可调直流电源EC,用一个阶梯波电压发生器代替提供基极电流的可调直流电源Eb。实验器材:电阻,BJT管,二极管,图示仪实验数据及结果分析:线性电阻的VCR特性半导体二极管的VCR晶体管的输出特性实验结论:实验曲线与理论曲线相符合。2、单管放大器的研究与测试实验名称:单管放大器的研究与测试实验目的:1进一步熟悉常用电子仪器的使用。2掌握直流电压、电流及正弦信号的测试方法。3学习放大器静态工作点、放大倍数及其输入电阻的测量。实验内容:本实验测试电路由硅NPN型晶体管组成的共射单管放大电路,电原理图如图2所示,实验电路如图3所示。图2 阻容耦合共射放大器图3 共射单管放大器实验电路其中选择、,旁路电容取,下偏置电阻取,上偏置电阻适当选择,负载电阻。静态工作点的测量令Vcc=+12V,调节电位器RW,使UE=1.5V。用万用表测量UE、UB、Uc,计算UBE、IEQ、UCE,数据记入表1中。表1 静态工作点的测量UE(V)UB(V)Uc(V)UBE(V)IEQ(mA)UCE(V)1.52.29.00.71.57.5放大倍数的测量在正常状态下测量放大器的电压放大倍数。设置信号频率,,测量Uo,计算放大器的电压放大倍数(增益)Au。数据填入表2中,用坐标纸定量描绘输入、输出波形。表2 放大倍数的测量测试条件工作状态输出电压Uo放大倍数(Au)输出波形Ui=5mV正常500mA100正弦波如图:输入电阻、输出电阻的测量使放大器处于正常工作状态,分别用“两次电压法”测量该放大器的输入电阻Ri和输出电阻Ro,数据填入表3中。表3 输入电阻、输出电阻的测量输入电阻输出电阻放大器带宽的研究使放大器处于正常工作状态,用“逐点测试法”测量该放大器的通频带,数据填入表4中。表4 放大器通频带的测量频率值/Hz带宽501005001000200036000360K0.541.251.301.801.801.310.4236K实验结论:图像与放大倍数相同。3、集成运算放大器放大特性实验名称:集成运算放大器放大特性实验目的:1,加深对集成运放基本特性的理解;2,掌握集成运放的正确使用方法;3,学习集成运放在基本运算电路中的应用方法;掌握用正弦测试法对运放应用电路进行性能测试的方法。实验原理:1.单级放大电路是放大器的基本电路。静态工作点(Q点)是放大器在没有输入信号时,晶体管的IBQ、ICQ、UCEQ、UBEQ,也称为Q值。为了保证放大电路不失真的输出电压,Q值选择在交流负载线的中点附近。实际放大器的参数一旦确定,通过调整偏置电阻对静态工作点进行调节和测试。测量静态工作电压时,应正确选择电表量程,考虑电表内阻对被测电压的影响;测量静态工作电流时,往往采用间接测量法,即通过对已知电阻两端的电压的测量来计算电流。2.电压放大倍数是放大电路交流输出信号电压与输入信号电压之比,运用正弦测试方法对其进行测量。3.对于放大器输入电阻、输出电阻的测量,可运用两次电压法间接测量,测试原理如图1所示。输入电阻输出电阻实验器材:BJT管,直流偏执电源,高频/低频信号发生器,示波器,电阻,电容,面包板,万用表实验内容: 反相放大器反相放大器组态电路如图1所示。图1 反相放大器2.同相放大器同相放大器组态电路如图2所示:图
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