智能化電子系统设计稿报告书.docVIP

目录 1 前言（绪论） 2 2 总体方案设计 3 2.1方案比较 4 2.1.1方案一：长期寿命测试 4 2.1.2方案二：加速（短期）寿命测试 4 2.2方案论证 4 3 单元模块设计 5 3.1各单元模块功能介绍及电路设计 5 3.1.1热阻( Rθ ) 的测量 5 3.1.2结温测量 6 3.1.3光通量的测量 7 3.1.4串口电路的设计 8 3.1.5温度控制和报警电路设计 9 3.1.6 过零触发电路设计 9 3.2电路参数的计算及元器件 10 3.2.1 LED灯常用电路参数 10 3.2.2电学特性 10 3.3特殊器件的介绍 13 3.3.1 ADM3251E 13 3.3.2 ADUC848 14 3.3.3 555芯片 15 3.4各单元模块的联接 17 4 软件设计 18 4.1 PROTEL99 SE简介 18 4.2软件设计结构及功能 18 5 系统调试 19 6 系统功能及指标参数 20 6.1说明系统能实现的功能 20 6.2系统指标参数测试及测试方法说明 20 6.2.1失效时间和失效数的确定 20 6.2.2 数据处理方法 22 6.3系统功能及指标参数分析 22 7 结论 23 8 总结与体会 24 9 参考文献 25 附录1：相关设计图 26 附录2：元器件清单表 27 附录3：相关设计软件 28 1 前言（绪论） 1986 年，在蓝宝石基底上沉积高品质GaN 晶体获得成功，并且在1993 年开发出了高亮度蓝光发光二极管( LEDs) 。至今，人们仍在对高亮度蓝光 LED 进行不断地完善。在 1996 年，开发出了采用蓝光 LED 与黄色荧光粉相结合发出白光的 LED 产品并将其商业化[1]。21 世纪照明 METI 国家(Akari) 项目是一项基于高效率白光 LED 照明技术的工程，它利用的是近紫外线 LED 与荧光粉系统相结合的方法，该项目于1998 年启动，其第一阶段的项目已于 2004 年完成。 作为电子元器件，发光二极管（Light Emitting Diode-LED）已出现40多年，但长久以来，受到发光效率和亮度的限制，仅为指示灯所采用，直到上世纪末突破了技术瓶颈，生产出高亮度高效率的LED和兰光LED，使其应用范围扩展到信号灯、城市夜景工程、全彩屏等，提供了作为照明光源的可能性。随着LED应用范围的加大，提高LED可靠性具有更加重要的意义。LED具有高可靠性和长寿命的优点，在实际生产研发过程中，需要通过寿命试验对LED芯片的可靠性水平进行评价，并通过质量反馈来提高LED芯片的可靠性水平，以保证LED芯片质量，为此我司在实现全色系LED产业化的同时，开发了LED芯片寿命试验的条件、方法、手段和装置等，以提高寿命试验的科学性和结果的准确性。LED 照明因具有许多优点，例如长寿命、低能耗、体积小等而非常有吸引力。最早 LED 只是被用来替换小型白炽灯充当指示器。在其光效有所提高后，LED 被应用于显示器中。随着其光效和总光通量的进一步改善，LED 开始被应用于日常照明领域。对于普通照明设备而言, LED 有限的光通量是一个难以解决的问题。要想获得高光通量就需要有高密度基底和大的工作电流。这将导致LED 产生热量、温度升高, 损坏LED 模块。 随着LED生产技术水平的提高，产品的寿命和可靠性大为改观，LED的理论寿命为10万小时，如果仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验，很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价，而我们试验的主要目的是，通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况，进而推断其寿命。介绍了LED芯片寿命试验过程，提出了寿命试验条件，完善的试验方案，消除可能影响寿命试验结果准确性的因素，保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式，使寿命试验台不但操作简便、安全，而且试验容量大。LED 的半衰期与 PN 结（Tj 点）结点的温度关系可用如图2.1曲线表示，其关系为 式中， Bt 为使用t后的光通量， Bo 为初始使用的光通量； e为对数常数；c为常数；t 为使用时间；k 为温度。 不管如何测量，半导体照明光源的寿命通常是比较长的，这对 LED 产品应用来说是一个很有意义的因素。 随着使用时间的推移，LED的光衰量非常小。一般情况下，LED光源的使用寿命是 50 000 h或者更长。如果其中一个LED损坏了也不会影响整个灯的继续照明。 LED灯的使用寿命还取决于每天工作多少小时如图表 2.2所示。 每天工作时间 5 万小时等于 10 万小时等于 每天24小时 5.7 年 11.4 年 每天工作18小时 7.4 年 14.8 年 每天工作8小时 17.1 年 34.2 年 表2.2 LED 寿命与使用时间的关系 必须