SPC质量管理教材解读.ppt

我们为什么实施SPC? 帮我们减少 客户投诉 报废率 审查工时 仪器有效的损失 客户要求 不要仅仅告诉我们你的程序/ 产品正 在改良,表现过程数据 客户稽核 内部管理 变差是什么？ 在一个程序的个别项目/ 输出之间的 不可避免的不同(可分普通和特殊原因) 变差的例子 你的操作有变化 机器有变化 你的仪器有变化 产品的质量特性有变化 变差的起源…… 不理睬…… 控制图-控制过程的工具 控制图的分类 控制图可分为计量型和计数型两种: 计量型数据 定量的数据,可以用测量值来分析.如:用毫米表示轴承的长度. 例如X – R图, X-S图等。 计数型数据 可以用来记录和分析的定型数据,如:不合格率等.如P管理理图，Pn管理图等。 计量型控制图 计量型控制图 计量型控制图的计算公式 X- R 由两部份分组成: 图解释 观察样本均值的变化 R图解释 观察误差的变化 附录: 常数表 过程流程发生变化时： 如增加或减少某个工序，改变了某个工序的作业方法或作业步骤，这可能导致过程位置和分布发生变化，这种变化可能使有控制规格不再适用。 使用新的设备： 新设备的使用可能导致过程位置和分布发生变化，这种变化可能使原有控制规格不再适用。 现有过程发生失控，经过改善过程重新受控后： 现有过程失控，再改善完成后过程均值及分布均与改善前出现差别，旧有规格已不再适用，需重新计算控制规格。 对过程普通原因进行改善后： 过程能力的提高是与引起过程变异的普通原因的消除紧密相关，在对过程能力改善后，过程均值更接近目标值，过程变异变小，旧有控制规格已不再适用。 当子组容量发生变化时： 抽样频率与过程特殊原因出现的频率有关，特殊原因出现的频率越高，抽样频率需相应增加，此时，应重新调整控制界限。 分析过程能力篇 X –MR Chart X R Chart 分析过程能力的前提： 过程必 须受控 服从正 态分布 测量系 统可接受 计算稳定过程能力指数- CP C P USL - LSL 6 ^ σ R /d 2 规格上限 规格上限 常数 常数表 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d 1.13 1.69 2.06 2.33 2.53 2.70 2.85 2.97 3.08 2 计算过程实际能力指数 CPK ，（它考虑了过程输出平均值的偏移） C PK 3 ^ σ X - LSL USL - X 3 ^ σ 最小值 R /d 2 3 ^ σ = 其 中 X 图上的数据点超出上下控制界限的可能原因： 控制界限计算错误 描点错误 测量系统发生变化 过程发生变化 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 连续七点上升 X 图 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 连续七点下降 X 图 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 连续七点在控制中限的下方 X 图 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 连续七点在控制中限的上方 X 图 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 过于规则的分布 连续 14 点交替上升和下降 X 图 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 明显多于 80% 的点在 CL 的附近 X 图 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 明显少于 40% 的点在 CL 的附近 X 图 控制界限计算错误 描点错误 测量系统发生变化 过程发生变化 过程均值发生变化 抽样数据来自完全不同的两个整体 R 图 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) 0 超出控制上限 控制界限计算错误 描点错误 测量系统发生变化 测量系统分辩率不够 过程发生变化 R 图 Upper Control