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第六讲静力触探试验;6.1.1静力触探试验概念;6.1.1静力触探试验概念;6.1.1静力触探试验概念;6.1.2静力触探试验特点;6.2.1静力触探贯入设备;6.2.1静力触探贯入设备;6.2.1静力触探贯入设备;6.2.1静力触探贯入设备;6.2.1静力触探贯入设备;6.2.1静力触探贯入设备;6.2.2静力触探探头;6.2.2静力触探探头;6.2.2静力触探探头;6.2.2静力触探探头;6.2.2静力触探探头;6.2.2静力触探探头;6.2.2静力触探探头;6.2.2静力触探探头;6.2.2静力触探探头;6.2.3静力触探量测仪器;6.3.1试验准备工作;6.3.2现场试验工作;6.3.2现场试验工作;6.3.2现场试验工作; 《岩土工程勘察规范》(GB-50021-2001)的第10.3.3条： “静力触探试验成果分析应包括下列内容： 1.绘制各种贯入曲线：单桥和双桥探头应绘制ps-z曲线、qc-z曲线、fs-z曲线、Rf-z曲线；孔压探头尚应绘制ui-z曲线、qt-z曲线、ft-z曲线、Bq-z曲线和孔压消散曲线ut-lgt曲线； 2.根据贯入曲线的线型特征，结合相邻钻孔资料和地区经验，划分土层和评定土类；计算各土层静力触探有关试验数据的平均值，或对数据进行统计分析，提供静力触探数据的空间变化规律。; 原始记录的修正包括读数修正、曲线脱节和深度修正三个内容。 1.读数修正——消除温度影响： 自动记录仪读数时，在触探前和触探过程中，每每贯入一定深度(一般2m左右)，提升探头一次，并将仪器的初读数调零，这样得到的数据可以不做修正。 如果初读数不归零，仍然需要每贯入一定深度(一般2m左右)，提升探头一次，不调零但记录初读数，然后根据归零检查的深度间隔按线性内插法对测试值加以修正。 ε=ε1-ε0;2.曲线脱节修正： 非连续贯入触探仪每一行程结束和新的行程开始时，自动记录仪的自动记录的曲线会出现台阶或喇叭口状，如右下图所示。 对于这种情况，一般 以停机前曲线位置为准， 顺应曲线变化趋势，将曲 线较圆滑地连接起来，见 右图中的虚线所示。;3.深度修正： 静力触探过程中，由于导轮磨损、导轮与触探杆打滑，以及触探孔倾斜、触探杆弯曲等原因，会造成记录曲线上记录深度与实际深度不符。 对于触探杆打滑、速度比不准等原因造成的深度误差，应在贯入过程中随时注意，做好标记，在整理资料时，按深度线性修正误差或在漏记处补全。 对于导轮磨损引起的误差，应及时更换导轮。 对于孔倾斜引起的误差，则应在触探的同时量测探杆的倾斜角(相对铅垂线)，则可以按下式对贯入量进行修正。; 触探时，量测到的某段探杆倾斜角(相对铅垂线)为△hi，则该段的贯入修正量为： 式中 △hi——第i段深度修正值； θ,θi ——第i次和第i-1次实测的倾斜角。 触探结束时的总修正量为∑△hi，则实际的贯入深度应为： ; 单桥探头的比贯入阻力、双桥探头的锥头阻力及侧壁摩阻力按下列公式计算： ps=Kp·εp qc=Kq·εq ； fs=Kf·εf 式中：ps——单桥探头的比贯入阻力(MPa)； qc——双桥探头的锥头阻力(MPa)； fs——双桥探头的侧壁摩阻力(MPa)； Kp、Kq、Kf——分别为单桥探头、双桥探头的标定系数(MPa/με)； εp、εq、εf——分别为单桥探头、双桥探头贯入的应变量(με)。; 摩阻比α是以百分率表示的各对应深度的锥头阻力和侧壁摩擦力的比值： α=fs/qc×100% 式中α——双桥探头的摩阻比。; 使用微机触探时，可由微机自动完成需要的单孔静探曲线。 人工读数记录时，需要根据测得的数据绘制单孔静探曲线。 需要绘制的曲线一般包括：ps-h曲线、qc-h曲线、 fs - h曲线、α-h曲线等，详细可见下页图形。 其中：ps——单桥探头的比贯入阻力(MPa)； qc——双桥探头的锥头阻力(MPa)； fs——双桥探头的侧壁摩阻力(MPa)； α——双桥探头的摩阻比。;§6.4静力触探资料整理;§6.4静力触探资料整理; 如前所述，静力触探试验就是用静力将装有传感器探头匀速压入土中，同时量测探头的阻力。 由于地层中各种土的状态和密实度不同，探头所受的阻力也不一样，因此可以通过贯入阻力的变化