材料分析测试方法–1.pptVIP

材料分析测试方法 材料物理与化学系 卢正欣 E-mail： luzx@xaut.edu.cn 教学邮箱：temonline@yahoo.cn 绪 论一. 材料分析测试的地位与作用 不同材料具有各自不同的使用性能 材料的宏观性能是由其微观组织、结构、成分所决定 以304不锈钢为例： 结构：面心立方（fcc） 组织：单相奥氏体 成分：18%Cr-8%Ni 材料分析测试的地位与作用 二. 材料分析测试方法 显微组织分析 化学成分分析 晶体结构分析 三. 本课程内容 X射线衍射分析 电子显微分析 其它现代分析方法 XPS、AES、SPM等 1. X射线衍射分析 定义 利用X射线在晶体中的衍射现象对材料的结构（物相）进行定性、定量分析，并对与材料结构相关的晶体学参数（晶格参数、晶体取向、晶体缺陷等）进行分析测定的方法。 分析仪器 X射线晶体分析仪、X射线衍射仪、X射线应力仪 X射线晶体分析仪 单晶定向 缺陷检验 物质定性 点阵常数测定 残余应力测定 X射线衍射仪 物相定性 物相定量 结晶度、晶粒尺寸测定 织构测定 点阵参数测定 残余应力 X射线应力仪 残余应力测定 2. 电子显微分析 电子显微分析定义 以高能电子束作为照明源，利用电子束与样品物质交互作用产生的物理信息，进行材料组织、结构和成分分析的方法。 电子显微分析仪器 透射电子显微镜、扫描电子显微镜、电子探针、俄歇电子能谱仪、电子能量损失谱仪等。 透射电子显微镜 分辨率： 0.1~0.2nm 放大倍数：0.4~150万倍 主要功能：材料微观组织形貌观察、晶体缺陷分析、晶体特征参量测定、物相分析等 扫描电子显微镜 分辨率： 1nm 放大倍数：10~20万倍 主要功能：材料表面形貌观察、断口分析等 电子探针 分辨率： 1nm 元素范围： Z = 4 ~ 92 主要功能：材料微区化学成分分析 俄歇电子能谱 分辨率： 1nm 元素范围：Z ≥ 3 主要功能：材料浅表面微区化学成分分析 3. 其它现代分析测试方法 X射线光电子能谱 二次离子质谱 扫描探针显微镜 四. 课程特点与要求 理论性与实践性强 涉及物理学、晶体学、电子光学、量子力学等理论，概念抽象。 需要实验密切支撑 要求 掌握各种分析方法的基本原理、特点与应用 能够针对分析测试要求选择适当的测试方法，涉及测试方案，并能对基本的测试结果进行分析解释。 五. 教学安排 总学时：48学时 其中课堂教学42学时，实验6学时 主讲教师： 卢正欣（X射线衍射分析） 雷 黎（电子显微分析） 授课方式：传统+多媒体 成绩考核： 作业、考勤、笔记、实验、闭卷考试 六. 相关后续课程 《材料分析测试课程设计》 学时：1周 指导教师：现代分析测试中心全体教师 《无损检测》 《失效分析》 《现代材料分析技术》 《波谱分析》 《仪器分析》 第一章 X射线物理基础 X射线的性质 X射线的产生及X射线谱 X射线与物质的相互作用 1.1 引言 X射线的发现是19世纪末20世纪初物理学的三大发现（X射线1895年、放射线1896年、电子1897年）之一，这一发现标志着现代物理学的产生。  发现X射线 1894年11月8日，伦琴（Wilhelm R?ntgen ，[徳]）在研究阴极射线管的高压放电现象时，发现了能使荧光物质发光的 一种新射线。 1895年12月22日，伦琴和他夫人拍下了第一张X射线照片。 X射线的性质 X射线的主要特征： 肉眼不可见 具有与可见光类似的性质（沿直线传播、使胶片感光、使荧光物质发光） 具有自身的特点（很高的穿透能力、可被物质吸收和减弱、可使空气电离、对生物细胞有杀伤作用等） 贡献 几个月后，被用于医学诊断，后来又用于金属材料和机械零件的探伤。 1901年获第一次诺贝尔物理学奖。 1912年劳厄发现了X射线通过晶体时产生衍射现象，证明了X射线的波动性和晶体内部结构的周期性。 1912年11月，布拉格提出著名的布拉格方程，成功解释劳厄的实验。 图为2001年3月27日，在澳大利亚悉尼大学，一名工作人员在审视手中的X射线照片。 不锈钢焊缝X射线探伤 1.2 X射线的本质 一、X射线的本质 X射线与可见光、紫外线、宇宙射线一样也是电磁波的一种，具有波粒二象性，波长在10－8cm左右，与晶格常数为同一数量级。  二、电磁波谱 X射线的波长在10 -6 ~ 10 -10 cm