SPC统计过程控制程序汇.docVIP

1.目的 提供SPC的使用准则及步骤，并说明使用方法，以便在运用控制图时能够正确地决定、检讨控制界限与进行控制图的判读。 2.范围 X-R控制图、P控制图、Cpk（制程能力指数）、Ppk的运用管理。 3.职责 3.1 相关部门：SPC的运用与维持。 3.2 品质部：SPC的使用的规划。 4.定义 3.1 计量值特性 凡产品的品质特性以实际量测方式取得的特性称为计量特性，例如重量、长度等。　 3.2 计数值特性 凡产品的品质特性不连续，不易或不能以实际量测方式取得，只能间断取值的 特性，例如不合格数、不良品率等。 5.内容 5.1控制图使用规划及选择原则 5.1.1 使用规划由QA及工程部根据各制造工序影响因素及质量影响因素，结合成 本及效益，全面规划需采取控制图控制的工序和产品特性。 5.1.2 选择原则 5.1.2.1 计量值特性选用X-R控制图。 5.1.2.2 计数值特性选用P控制图。 5.2 控制图绘制、使用步骤 5.2.1 首次使用控制图的作业程序 5.2.1.1 决定须控制的特性。 5.2.1.2 搜集25组数据。 5.2.1.3 计算中心线(平均值)及控制上、下限。 5.2.1.4 绘制控制图。 5.2.1.5 检查是否有超出控制界限的点 5.2.1.6 将这些超出控制界限的资料剔除并重新计算中心线(平均值)及控制上、下限。 5.2.1.7 决定控制图的中心线(平均值)及控制上、下限。 5.2.2 现场使用控制图的作业程序 5.2.2.1 在新的控制图纸划出控制图的中心线(平均值)及控制上、下限。 5.2.2.2 依规定的抽样频率及抽样数，并将所得资料记录于控制图上，且依所使用的控制图 种类进行计算。 5.2.2.3 将计算结果描点于控制图上。 5.2.2.4 控制图判读及异常控制图纠正/预防措施 5.2.2.5 检讨控制界限 5.2.2.5.1当完成一张控制图时，根据控制图图纸上的资料重新计算中心线 （平均值）及控 制上、下限。计算时须剔除超出控制界的资料。 5.2.2.5.2 比较计算前后之中心线（平均值）及控制上、下限。 5.2.2.5.3 若无重大差异时在新的控制图纸延用计算前的中心线（平均值） 5.2.2.5.4 若有明显的差异时，可在新的控制图纸使用计算后的控制中心线（平均值）及控制上、下限。 5.3 控制图判读原则及异常控制图的纠正/预防措施 5.3.1 正常之控制图其各点的动态为： 5.3.1.1 多数的点集中在中心线附近。 5.3.1.2 少数的点落在控制界限附近（但未超出控制界限）。 5.3.1.3 各点的分布呈随机状态，无任何规则可循。 5.3.2 异常控制图的判读 5.3.2.1 任何超出控制限的点 5.3.2.2 连续7个点在中心线之上或之下 5.3.2.3 连续7个点上升或下降 5.3.2.4 任何其它明显的非随机图形，如2/3的描点应落在控制限1/3的中间区域，描点成 规则形状。 5.3.2.5时常出现点接近管理界限的时候 5.3.2.6点集中于中心线附近的时候 5.3.3 异常之控制图的纠正/预防措施 5.3.3.1 出现任何超出控制界限的点，都应提请相关单位进行原因分析，并采取纠正措施。 5.3.3.2 对于连续7个点在中心线之上或之下，或连续7个点上升或下降，或其它明显非随 机图形，都应提请相关部门分析原因，留意趋势采取相应预防措施。 5.3.3.3 如相关责任部门无视不良现象的存在或长期行动无效果, 必要时发出《纠正/预防 措施要求书》要求其改善。 5.4 X－R控制图的使用方法 X－R控制图是以控制平均值（X控制图）与全距（R控制图）的方式达到管 制的目的。 5.4.1 决定样本数 5.4.1.1 使用X－R控制图的样本数（n）以2 ~ 5个为适当，但不要超过10个为宜。 5.4.1.2 样本数一经决定后必须在使用时固定不变。 5.4.2 平均值与全距的计算 5.4.2.1 平均值（X）= 各组内数据的和÷样本数。 5.4.2.2 全距（R）= 各组内的最大值－最小值。 5.4.3 X 控制图与R控制图之中心线与控制上、下限的计算公式。 5.4.3.1 X 控制图之中心线与控制上、下限的计算公式： 5.4.3.2 R 控制图之中心线与控制上、下限的计算公式： 5.4.3.3 X－R控制图的系数表 N 2 3 4 5 6 7 8 9 10 A2 1.880 1.023 0.729 0.577 0.483 0.419 0.373 0.337 0.308 D2 1.128 1.693 2.059 2.326 2.543 2.704 2.84