TEM(中文学生)汇.ppt

Concepts Materials mater Research science and engineering interest and science Methods multiformity FIB dimensions 10 μm by 7 μm by 0.2 μm. 1. 菊池线对的角间距2θ，θ是Bragg angle 这是与相应的hkl衍射斑点的的角间距是一样的, 所以菊池线的标定可以用与电子衍射花样相同的方法标点。 2. 从透射斑点至某一衍斑点的联线垂直于相应菊池线对。 3. 可以看出，菊池线对的中线似乎可以相象成相应的（hkl）晶面与荧光屏的交截线。 4. 菊池线花样好象是与晶体紧密联系起来的，晶体转动菊池线花样也就跟着转动。可以看出，由于试样到底版的距离较大（L≥500mm），（hkl）晶面的略微转动就会引起底版上菊池线对的明显位移(（hkl）与底版的交截线即为菊池线对的中线位置)。而电子衍射斑点花样，则由于倒易阵点因试样厚度关系而成为好倒易杆，因此在偏离Bragg条件很大时还能观察到衍射斑点， 当晶体转动时，相当范围内衍射斑点始终出现，且没有位置移动。 1. 测量和标定金的衍射环，计算相机常数，并求出平均值2. 测量单晶斑点的距离，确定晶面间距。3. AlN为六方结构，自洽性检查。求出入射电子束方向。4. 求出析出面。5. 求相转角。6. 长大方向和生长面。  4.4 Determination of the foil thickness  4.4.1 From thickness fringes 4.4.2 From bend contours 习题要求 1. 标定衍射 2. 确定膜面取向 3. 判断弯曲变形特征 4. 通过付条纹计算膜的厚度 1. 标定 2. 膜面方向 3. 判断弯曲变形特征 根据透射斑和衍射斑的 相对位置 Saucer D T T D 4. Sg at the center (midpoint between 3 and 4 Sg= = 0.822A-1 Sg= = 0.0125A-1 Sg at the position of the 1st subsidiary fringe: 本练习是分别通过测量石墨晶体(六方晶系)中的不全位错(相当于面心立方晶系中的Shockley位错)的分解宽度(从完全位错分解得到的两个Shockley位错的间距, 也即层错带的宽度)和测量分解的位错结(组成位错结的三个不全位错均为Shockley位错, 位错结包围的区域是一片层错)的曲率半径计算石墨的层错能。显然, 从这两种方法测得的层错能应该是相同的(在误差范围之内), 至少应该在同一数量级; 倒易关系决定的倒易轴角度 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. Evaluation