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- 2017-05-31 发布于湖北
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Array基板Processflow剖析
Array基板Process flow
AFFS LTPS 12PEP
From:LTPS training8th
PEP1 (LS)
沉膜前清洗,去除Particle
LS (遮光层):材料可为a-Si,metal等吸遮光材料。防止Poly受到强光照射产生光生载流子,导致器件漏电流增大。
LS作用:遮蔽背光,减少其对半导体电性的影响。LTPS 采取Top Gate设计
(顶栅结构,TN产品为Bottom Gate,顶栅结构)LTPS受背光源影响,会产生光电漏电,影响Device性能
PEP2(poly)
NMOS
PMOS
Pad
a-Si
Poly
Poly
3Layer的作用:缓冲层,防止玻璃基板中的杂质在热制程中扩散到LTPS中,降低漏电流。 (SiNx隔绝离子的能力较强与玻璃接触的应力较小,SiOx与多晶硅界面润湿角比较好,故采用SiNx/SiOx的堆叠方式).
ELA:Excimer Laser Annealing 即准分子激光退火,指通过准分子激光对a-Si进行照射,实现a-Si薄膜向多晶硅薄膜(Poly-Si)的转变
SiO2
SiNx
PEP3(NCD)
NCD:N Channel doping,调整TFT Vth阈值电压。所用气体为BF3.
Ash目的: 由于implant导致PR表面发生碳化,膜质变的致密难剥离
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