Array基板Processflow.pptxVIP

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  • 2017-05-31 发布于湖北
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Array基板Processflow剖析

Array基板Process flow AFFS LTPS 12PEP From:LTPS training8th PEP1 (LS) 沉膜前清洗,去除Particle LS (遮光层):材料可为a-Si,metal等吸遮光材料。防 止Poly受到强光照射产生光生载流子,导致器件漏电 流增大。 LS作用:遮蔽背光,减少其对半导体电性的影响。LTPS 采取Top Gate设计 (顶栅结构,TN产品为Bottom Gate,顶栅结构)LTPS受背光源影响,会产生光电漏电,影响Device性能 PEP2(poly) NMOS PMOS Pad a-Si Poly Poly 3Layer的作用:缓冲层,防止玻璃基板中的杂质在热制程中扩散到LTPS中,降低漏电流。 (SiNx隔绝离子的能力较强与玻璃接触的应力较小,SiOx与多晶硅界面润湿角比较好,故采用SiNx/SiOx的堆叠方式). ELA:Excimer Laser Annealing 即准分子激光退火, 指通过准分子激光对a-Si进行照射,实现a-Si薄膜向 多晶硅薄膜(Poly-Si)的转变 SiO2 SiNx PEP3(NCD) NCD:N Channel doping,调整TFT Vth阈值电压。所用气体为BF3. Ash目的: 由于implant导致PR表面发生碳化,膜质变 的致密难剥离

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