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光电器件课程-噪声 上科大 参考书目： 2014年上科大《光电器件》课程推荐阅读电子书籍\第03次课后推荐阅读书籍\噪声专题: Noise in electronics Fluctuation Phenomena in Semi-conductors noise in semiconductor ===== Electronic Noise and Interfering Signals, Principles and Applications 《微弱信号检测》 《低噪声电子学》 * 假定入射光是正弦强度调制的，放大器是理想放大器，放大倍率任意可调。 当入射光强度较大时，在示波器上可以看到正弦变化的信号电压波形 。 降低入射光功率时，增大放大率，发现正弦电压信号上出现许多无规起伏，使正弦信号变得模糊不清(图(b))。 再降低入射光功率时，正弦波幅度越来越小，而杂乱无章的变化愈来愈大。最后只剩下了无规则的起伏，完全看不出什么正弦变化，噪声淹没了信号。 这时探测器失去了探测弱光信号的能力。 探 测 器 放 大 器 示波器 (a) (b) (c) 光 * * 红外探测器中噪声起源及其度量 实际测量中噪声的表现 从上面讨论中，我们可以建立这样的观念： 上述现象并不是探测器不好所致。 它是探测器所固有的不可避免的现象。 任何一个探测器，都一定有噪声。 也就是说，在它输出端总存在着一些毫无 规律、事先无法预知的叠加在信号电压 上面的电压起伏。 这种无规起伏，在统计学中称为随机起伏。 如图，噪声电压随时间的变化是无规则的。 显然，无法用预先确知的时间函数来描述它。 然而，噪声本身是统计独立的，所以能用统计的方法来描述。 长时间看，噪声电压从零向上涨和向下落的机会是相等的，其时间平均值一定为零。所以用时间平均值无法描述噪声大小。 * * * 噪声的度量 噪声是一种随机量，它实质上就是物理量围绕其平均值的涨落现象。任何一个宏观测量的物理量都是微观过程的统计平均值。研究噪声一般采用长周期测定其均方值(即噪声功率)的方法，在数学上即用随机量的起伏方差来计算。 对于平稳随机过程，通常采用先计算噪声电压(电流)的平方值，然后将其对时间作平均，来求噪声电压(电流)的均方值，即： 上式表示噪声电压(电流)消耗在1Ω电阻上的平均功率，通称为噪声功率。 对噪声电压的均方值开根号，就得到所谓方均根（root mean square）噪声电压un，即 这正是我们用电压表所测量到的那种有效电压。 * 虽然噪声电压的起伏是毫无规则，无法预知的，但其方均根电压却具有确定值。 这就是噪声电压(噪声电流也一样)服从统计规律的反映。 由于引起探测器起伏噪声的因素往往很多，且这些因素又彼此独立，所以总的噪声功率等于各种独立的噪声功率之和，即 在实际上就把探测器输出的方均根噪声电压(电流)称为探测器的噪声电压(电流)。 显然，探测器噪声的存在，就使得探测器对光信号的探测本领受到一个限制。所以定量估计探测器的噪声大小就显得很重要了。 * * * 噪声的功率谱密度 许多时域问题往往在频域中讨论更为方便，噪声问题也是这样，就是通过付里叶变换把噪声电压从以时间为变量的un(t)，变换成以频率为变量的 un(f)。 噪声随测量频率的变化函数称为噪声频谱。 噪声的频谱分布——单位频率间隔的噪声功率 噪声功率（电压、电流）可由噪声功率谱密度Sn(f)在频域积分得到。 根据噪声频谱特性分为两类： 白噪声：平坦的频谱特性，噪声特性为正态高斯分布 有色噪声：1/f噪声（红噪声），蓝噪声 如果Sn(f)与频率无关，则对于一个具有带宽Δf的探测系统： * 按噪声产生的原因，可分为以下几类 噪声 外部来源 内部根源 人为噪声 自然噪声 热噪声 散粒噪声 产生－复合噪声 光子噪声 低频噪声 温度噪声 放大器噪声 * * * 来自光电系统外部的干扰 通常由电、磁、机械、杂散光等因素所引起，这种干扰绝大多数是“人为的”，如 －电源50H z干扰； －工业设备电火花干扰等。 但这种干扰通常具有一定规律性，例如周期性或突发性。 采取适当的措施(如屏蔽、滤波、远离噪声源等)可以将其减小或消除。 * * 探测器 噪 声 光子噪声 电路噪声 光电系统中的噪声 * * 光电探测器噪声来源 在光电探测器中固有噪声主要有： ●热噪声 ●散粒噪声 ●产生－复合噪声(g－r噪声) ●温度噪声 ● 1/f 噪声。 * * 热噪声 (thermal noise) 产生原因 热噪声是由耗散元件中电荷载流子的随机