MERLIN系列场发射扫描电镜从成像到全套实验室应用-CarlZeiss.PDF

产品信息 MERLIN 系列场发射扫描电镜 从成像到全套实验室应用： 卓越亚纳米级分析能力 网络链接 视频/动画 版本 1.0 使用未来的实验室分析仪器 MERLIN 借助  MERLIN  系列场发射扫描电镜，即可在数秒内完成图像采集，观察清晰 系列场发射扫描电镜 的原子级分辨率图像及进行完整的三维表面测量与分析。无论是配备性能出色 从成像到全套实验室应用： GEMINI I 镜筒的入门型 MERLIN Compact 电镜，或是配备高分辨率 GEMINI II 卓越亚纳米级分析能力。 镜筒的高端型 MERLIN 电镜，MERLIN 系列均是未来稳固投资的最佳之选：场 发射扫描电镜协助您更好地应对未来工作中的各种挑战。15  个探测器端口和多 › 概述 个分析选择，为用户提供灵活性和扩展性。 › 优势 › 应用 › 系统 › 技术与详细介绍 › 服务 2 MERLIN：更简单、更智能、更高度整合。 MERLIN MERLIN 系列易于扩展，以适应不断增长的需求 应用无极限 全面便捷的样品分析 系列场发射扫描电镜 从成像到全套实验室应用： MERLIN 系列场发射扫描电子显微镜（FE-SEM） 使用原子力显微镜功能选项，以原子级分辨率获取 MERLIN 系列的整套探测系统由不同探测器组 ® 卓越亚纳米级分析能力。 可以采集高分辨图像，做成份分析，获取样品全部 半导体样品的表面结构信息。通过增加 3View 超 成：in-lens 二次电子探测器用于高分辨率成像、能 信息。样品室配有用于安装探测器和多种分析功能 微切机实现大体积生物样本的三维重构。MERLIN 量选择背散射探测器（EsB）用于低电压成份衬度 选项的 15 个端口，协助您完成从图像采集到完整 系列的平台设计与智能化探测器技术，随时可借助 成像、in-lens duo 探测器用于二次电子和背散射电 › 概述 的材料分析等一系列工作。根据应用需求进行功能 即插即用扩展功能实现系统升级。开放式的系统软 子成像，或角度选择背散射探测器（AsB）用于晶 扩展：MERLIN 系列具备全面的可升级性。 件编程接口，可快速地整合市场上最新的分析解决 体表面的结构分析。适合对各种材料进行单独的分 › 优势 方案。 析，或与探测器信号一起获取更丰富的图像信息。 这些只需根据应用选配一个或多个探测器便可实 › 应用