广达650FEG扫描电子显微镜FEI公司.PDFVIP

产品数据 QuantaTM 650 FEG 查看真正的高分辨率多功能扫描电子显微镜 (SEM) 具有何种功能 FEI QuantaTM 可用于研究各种材料并表征材料的结构与成分，同时提供无与伦比 的灵活性，提高了性能与通用性，可应对当今广泛研究领域的各种挑战，满足多 方需要。观察样品，获取所有相关数据：将显微镜附件与表面形貌和成分图像结 合使用，确定材料特性及其化学元素组成。 当前的研究材料已不止是简单的金属和涂层样品。而Quanta 系列能够轻松解决 此类挑战，确保提供最优质的图像和分析。FEI Quanta 50 系列是先进和灵活的解 决方案，可应用于现在及未来的相关研究中。此系列采用三种成像模式– 高真 TM 空、低真空和ESEM 模式，可使SEM 系统样品包括最广泛的类型。这些仪器经 专门设计，可从各类样品 （无论有无制备）中获取最丰富的成像和显微分析数 据。适于表征的材料从传统样品如金属、断口和抛光片一直到非导电软材料。 Quanta 50 系列是第三代Quanta 系统，其建立在已获成功的前代ESEM Schottky FEG 产品的基础上。Quanta 系列具易用且灵活的用户界面，可最大限度提高工 主要优点 作效率，并实现对所有数据的收集。该仪器系列的设计源于显微镜工作者， • 采用环境扫描显微(ESEM) 技术，打造唯一的 并用于显微镜工作者，是一款真正超越 “易用性”的产品。导航功能包括自 高分辨率FEG-SEM 产品 • 可表征导电和非导电样品，且在各操作模 动Montage 导航、样品台移动双击控制、拖放变焦和其他有用的标准结合功 TM 式下均可能实现二次电子(SE) 和背散射电子 能。SmartSCAN 技术采用智能扫描策略，可减少噪声，提供最优质的数据。其 (BSE) 成像 TM 他新功能包括可提高低加速电压(kV) 性能的射束减速功能、Nav-Cam 彩色图像 • 最大限度减少样品制备量；低真空和环境扫 导航和使Quanta FEG 系列具备更大灵活性的新型伸缩式检测器等。 描(ESEM) 功能可实现无电荷成像，并能实现 对绝缘样品和含水样品的分析 更优质的数据。更大的灵活性。更高的效率。通用型FEG ESEM 如今正式面市。 • 在Quanta 的 “经由透镜抽气”专利技术产 生的高真空和低真空环境中对导电和非导电 样品进行能谱(EDS) 和电子背散射(EBSD) 分 析，以提高分析能力。稳定的高射束电流 （达到200 nA ）可实现快速、准确的分析 • 在专用原位样品台上可对各种保持自然状 态的样品进行动态原位分析，分析温度高 于或低于环境温度，变化区间从- 165 °C 到 1500 °C • 使用可选的射束减速模式能进行表面成像，