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热处理对以Al2O3为绝缘层的并五苯薄膜晶体管性能的影响
第28 卷第 1 期 湖南文理学院学报( 自然科学版) Vol. 28 No. 1
2016 年3 月 Journal of Hunan University of Arts and Science(Science and Technology) Mar. 2016
doi: 10.3969/j.issn.1672–6146.2016.01.005
热处理对以 Al O 为绝缘层的并五苯薄膜晶体管性能的影响
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聂国政, 唐京武, 许英
(湖南科技大学 物理与电子科学学院, 湖南 湘潭, 411201)
摘要: 采用阳极氧化法制备了Al O 绝缘材料, 并制备了以Al O 为绝缘层的并五苯薄膜晶体管器件(OTFT) 。
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Al O 绝缘层经过10 min 350 ℃氢热处理后, OTFT 迁移率比未经氢热处理的增大近20 倍, 且阈值电压降到了
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−7 V 。Al O 膜MIS 结构电容—电压(C– V)特性的平带电压平移量数据表明, Al O 膜经过热处理后, 并五苯半
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导体与Al O 绝缘体界面处以及绝缘体内缺陷态密度显著地降低, Al O 绝缘层和并五苯半导体层之间的接触
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得到改善, 这使得经热处理Al O 膜的OTFT 器件性能得到显著的改善。
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关键词: 有机薄膜晶体管; 阳极氧化Al2O3 绝缘层; 热处理
中图分类号: TN 321.5 文章编号: 1672–6146(2016)01–0015–04
Effect of annealing on organic thin-film transistor based on
high-k anodizing Al O dielectric
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Nie Guozheng, Tang Jingwu, Xu Ying
(School of Physics and Electronic Science, Hunan University of Science and Technology, Xiangtan 411201, China)
Abstract: Organic thin-film transistors (OTFTs) based on anodizing Al O dielectric are investigated. Al O is
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