第二章色谱法的基本术语及理论.PPTVIP

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第二章色谱法的基本术语及理论

第二章 色谱法的基本术语及理论 主要内容 主要内容 测定法 定量测定时,可根据具体情况采用峰面积法或峰高法。测定杂质含量时,须采用峰面积法。 内标法加校正因子测定供试品中某个杂质或主成分含量 外标法测定供试品中某个杂质或主成分含量 加校正因子的主成分自身对照法 不加校正因子的主成分自身对照法 面积归一化法 1、内标法加校正因子测定供试品中某个杂质或主成分含量 按各品种项下的规定,精密称(量)取对照品和内标物质,分别配成溶液,精密量取各溶液,配成校正因子测定用的对照溶液。取一定量注入仪器,记录色谱图。测量对照品和内标物质的峰面积或峰高。 校正因子计算公式: 再取各品种项下含有的内标物质的供试品溶液,注入仪器,记录色谱图。测量供试品中待测成分(或其杂质)和内标物质的峰面积或峰高。 按下式计算含量: 当配成校正因子测定用的对照品溶液和含有内标物质的供试品溶液,使用等量同一浓度的内标物质溶液时,即cS=c′S,则配制内标物质溶液不必精密称(量)取。 2、外标法测定供试品中某个杂质或主成分含量 按各品种项下的规定,精密称(量)取对照品和供试品,配制成溶液,分别精密取一定量,注入仪器,记录色谱图,测量对照品溶液和供试品溶液中待测成分的峰面积(或峰高)。 外标法计算含量公式: 3、加校正因子的主成分自身对照法 测定杂质含量时,可采用加校正因子的主成分自身对照法。在建立方法时,按各品种项下的规定,精密称(量)取杂质对照品和待测成分对照品各适量,配制测定杂质校正因子的溶液,进样,记录色谱图,计算杂质的校正因子。此校正因子可直接载入各品种项下,用于校正杂质的实测峰面积。这些需作校正计算的杂质,通常以主成分为参照采用相对保留时间定位,其数值一并载入各品种项下。 测定杂质含量时,按各品种项下规定的杂质限度,将供试品溶液稀释成与杂质限度相当的溶液作为对照溶液,进样,调节灵敏度(以噪音水平为限)或进样量(以柱子不过载为限)。 调节灵敏度,使对照溶液的主成分色谱峰的峰高约达满量程的10%~25%或其峰面积能准确积分: 通常含量低于0.5%的杂质,峰面积的相对标准偏差(RSD)应小于10%; 含量在0.5%~2%的杂质,峰面积的RSD应小于5%; 含量大于2%的杂质,峰面积的RSD应小于2%。 然后,取供试品溶液和对照品溶液适量,分别进样,供试品溶液的记录时间,除另有规定外,应为主成分色谱峰保留时间的2倍,测量供试品溶液色谱图上各杂质的峰面积,分别乘以相应的校正因子后与对照溶液主成分的峰面积比较,依法计算各杂质含量。 4、不加校正因子的主成分自身对照法 当没有杂质对照品时,也可采用不加校正因子的主成分自身对照法。同“加校正因子的主成分自身对照法”一样配制对照溶液并调节检测灵敏度后,取供试品溶液和对照品溶液适量,分别进样,前者的记录时间,除另有规定外,应为主成分色谱峰保留时间的2倍,测量供试品溶液色谱图上各杂质的峰面积并与对照溶液主成分的峰面积比较,计算杂质含量。 若供试品所含的部分杂质未与溶剂峰完全分离,则按规定先记录供试品溶液的色谱图1,再记录等体积纯溶剂的色谱图2。在色谱图1上杂质峰的总面积(包括溶剂峰),减去色谱图2上的溶剂峰面积,即为总杂质峰的校正面积。然后依法计算。 5、面积归一化法 由于峰面积归一化法测定误差大,因此,本法通常只能用于粗略考察供试品中的杂质含量。除另有规定外,一般不宜用于微量杂质的检查,方法是测量各杂质峰的面积和色谱图上除溶剂峰以外的总色谱峰面积,计算各峰面积及其之和占总峰面积的百分率。 主要内容 主要内容 中国药科大学色谱分析课程 丁 黎 色谱分析 丁黎 中国药科大学色谱分析课程 * 第一节 色谱分离与保留作用 第二节 有关色谱保留的基本术语及参数 第三节 塔板理论 第四节 速率理论 第五节 色谱峰展宽的柱外因素 第六节 分离度及影响因素 第七节 系统适应性试验 第八节 测定法 第九节 色谱吸附或分配等温线 第八节 测定法 式中:AS 为内标物质的峰面积或峰高, AR 为对照品的峰面积或峰高, cS 为内标物质的浓度, cR 为对照品的浓度。 式中:AX 为供试品(或其杂质)峰面积或峰高, A′S 为内标物质的峰面积或峰高, cX 为供试品(或其杂质)的浓度, c′S 为内标物质的浓度, f 为校正因子。 由于微量注射器不易精确控制进样量,当采用外标法测定供试品中某杂质或主成分含量时,以定量环或自动进样器进样为好。 第一节 色谱分离与保留作用 第二节 有关色谱保留的基本术语及参数 第三节 塔板理论 第

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