Fluke热像仪原理理论.ppt

Fluke?Ti 热像仪 原理基础培训资料V1.0 KINGCABLE ELECTRONICS CO.,LTD SHANGHAI GED ZHANGWEI 您的情况? 我们发现您将从您的同学中学习很多 请告诉我们： 您的姓名 使用 IR 有多长时间 通常您所使用的目的 您希望在该课程中学到? 一幅热像图 黑色意味着冷,亮色代表热 这图告诉我们什么? 什么使得热像图如此有用 它是非接触的－使用非接触 能够让使用者远离危险 不对被测物体有影响 它是一个二维的空间 可以比较整个面的温度 可以对物体有直观的了解 对物体进行可视化分析 真实的时间 可迅速地扫描静态物体 可以对运动物体捕捉 可对温度变化的物体 优质图像的质量 焦距 亮度 对比度 远景 构图 优质红外影像的质量 焦距 热级 热量程 热范围 远景 构图 空间分辨率 调色板 优质的热辐射测量数据 热辐射的测量 发射率 背景 测量分辨率 校准 关于红外原理 关于红外原理 基本热传导理论 我们主要参看表面 我们所关心的热能主要发源于内部 什么是内外之间的关系? 物体内部或表面的温度 内部发热 能量守恒定律 能量不能被产生或消失,只能从一个物质到另一个物质 所有进入系统的能量要么保留在那,要么离开 E进=E在+E出 热流的方向 能量可以从温度高的物体到温度低的物体 温度定义的热流的存在 如果这里有温度差,一定会有热流在 热传导模式 辐射 传导 对流 热传递的方式 发射率 一种材料性质 一种“效率系数” 校正值 = 0-1.0 黑体= 1.0 理想的反射率 = 0.0 实体 = 1.0. 发射率表 发射率表用于指南 其它材料的发射率值见 Fluke Ti30产品手册 低于 0.6 时的测量不可靠— 即使设置了正确的发射率 高发射率 不光滑的表面 高发射率 油漆（任何颜色），绝缘带或者强氧化作用 可靠的、可重复的温度测定 低发射率 低发射率表面 低辐射 高热反射 必须考虑到背景 在0.6发射率以下辐射温度难以正确地测定 发射率的变化 发射率和放射率 发射率可以根据以下而变化: 材料 ? 表面 波长 温度 放射率可以根据以下而变化: 视角 视角 尽可能垂直地工作 应了解辐射温度由于以下因素而作的改变: 视角的改变 目标形状的改变 弯曲物体的边缘似乎经常处于不同的温度 发射率和放射率的测定 辐射测量热像 用热像仪检测红外辐射 来源可以是: 反射 穿透 放射 只有发射辐射才能了解温度情况 反射辐射 补偿: 热反射的特征和控制 发射率的校正与调节 校正反射的背景温度 增加发射率 在低于0.6的校正下，测量是不可靠的 穿透辐射 大多数材料是非传导性的（不可穿透的） 有些具有部分穿透性: 塑料薄膜制品 透镜材料 玻璃（仅短波） 放射辐射 告诉我们关于温度的一些情况 校正: 发射率 背景温度 增加发射率 放射 + 反射辐射 当我们看到非传导性实体时，我们能看到反射和放射结合的辐射 调节发射率值和背景温度到可以正确地测量 背景温度 该背景的控制和特征 设想一个视觉镜像 ?什么正在反射? 它的温度是多少? 背景温度 可以是热的，冷的或者包围着的 为了更多精确的温度在热像仪输入这个校正值 按两次模式按扭， 再按向上/向下 按扭 如果...... 放射的成分很大…… 背景具有更少的影响 潜在的误差就较少 …否则如果... 反射的成分很大…… 背景影响也很大 潜在的误差也大 不推荐测定法！ 简单的操作指南 可靠的测定: ? 大于0.6的发射率 已知的或者控制的背景 不可靠的测定: 小于0.6的发射率 遥远的，未知的或者变动的背景 这是物理学 ！！ 更多昂贵的热像仪也不能解决与辐射测量有关的问题… 低发射率表面辐射少 低发射率表面反射 “关闭灯光” 不起作用 使用精确的发射率和 RTC 时测量 0.6 以上会非常精确。 分辨率 分辨率取决于： 检测器（160 x 120） 镜头 光学路径 分辨率 两种分辨率: 空间 测量 规定如下: 毫弧度（mRad） 距离与点大小之比或 “D 与 S” 之比 空间分辨率 可以分辨最微小的细部 测量分辨率 可以测定最微小的细部 空间分辨率 能够解决细节问题 检测器规格、镜头和距离决定了能够观察和测量的最小尺寸 空间分辨率 你也许能够看到物体， 但是..... 测量分辨率 …它们可能太小或者太远而不能正确地测定。 测量分辨率 解决方案?更接近！ 实际例子... 我看到一个热点 热成像应用 建筑物 屋顶湿度 电系统 机械系统 检查建筑物 我们出于多种原因检查建筑物：