烤箱的温度闭环控制实验.pptVIP

烤箱的温度闭环控制实验 烤箱的温度闭环控制实验 烤箱的温度闭环控制实验 二、实验仪器 一、实验目的 1.解由A/D做输入信道，开关量输出的PWM温控闭环系统。 2.热敏电阻的非线性有所了解。 3.掌握程序调试方法。 烤箱的温度闭环控制实验 三、实验原理 自从计算机进入控制领域以来，用数字计算机代替模拟计算机调节器组成计算机控制系统，不仅可以用软件实现PID控制算法，而且可以利用计算机的逻辑功能，使PID控制更加灵活。数字PID控制在生产过程中是一种最普遍采用的控制方法，在机电、冶金、机械、化工等行业中获得了广泛的应用。将偏差的比例(P)、积分(1)和微分(D)通过线性组合构成控制量，对被控对象进行控制，故称PID控制器。 烤箱温度控制的实验原理图 三、实验步骤 1、以PC机为操作平台，按实验原理要求结好实验线路，检查无误后打开电源开关，打开TDN-MI系统开关，数码管显示“P”，说明系统正常。启动PC机，显示DOS提示符C：或C：\WINDOWS,键入CD \，将目录改为根目录，输入CD MD51，可显示C：\MD51 在此处输入MD51即可进入MI接口。 2、根据TDN-MI系统与PC机联机使用说明，使用F1、F3、F2、F5等功能键或利用窗口中提示的组合键将B17-1.MASM、通过F2汇编（直到汇编成功）、F3-LINK后形成的B17-1.HEX文件利