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ATR附件的应用 ATR附件工作原理 ATR附件的应用 ATR附件工作原理 ATR附件的应用 ATR特点： 1、ATR测试几乎不需要样品前处理 2、ATR是非破坏性分析方法，能够保持样品原貌进行测定 ATR附件的应用 获得高质量ATR谱图的重要条件： ※尽可能使样品与ATR晶体紧密接触，提高接 触效率。 ※采取措施： 1、样品检测面尽可能平整。 2、针对固体样品，施加压力。 ATR附件的应用 * ATR附件的应用 应用工程师 田生梁 电话入射深度= 其中 λ为入射波长 n1为晶体折射率 n2为样品折射率 θ为入射角度 一般来说，入射深度为几微米 由于入射深度与波长有关，用ATR测试光谱时，会产生畸变。在低波数范围信号强度增大，高波数端信号强度减小，发生谱峰相对强度畸变。当选择结果谱图为“ATR谱”时，OPUS软件自动进行校正。 测试固体样品 对固体样品具体要求：检测面平整；不得刮花或者压坏ATR检测晶体。 *