使用高速逻辑分析仪探测高速数字系统.docVIP

　　使用高速逻辑分析仪探测高速数字系统|第1 lunouseg(this) 在较低频率上，电阻器会主导探头阻抗，对目标的影响最小。这是因为探头阻抗一般在20kΩ，而目标一般在50 ～75 Ω。两个阻抗并联，会产生最接近的目标阻抗。在频率提高时，探头开始引入电容，其阻抗开始滚降。一旦阻抗达到目标阻抗的数量级上，来自探头的反射会成为重要问题。 在超高频率上，探头会引入电感，阻抗将提高。探头负荷的电容和电感特点会形成谐振。逻辑分析仪探头的目标是尽可能提高谐振的频率。此外，谐振的阻抗应尽可能高。如果探头阻抗下降到10～20Ω范围内，探头将分流出目标系统较高的频率成分。对每种探头形状，厂商将提供精确的负荷模型及阻抗与频率关系曲线。 为迅速估算探头的影响，可以使用集总电容探头模型。逻辑分析仪探头厂商对每种探头形状提供了估算的集总电容。在使用等效集总电容时，可以确定时间常数，支持端接电阻或传输线的阻抗。然后可以在系统时间常数的RMS之和中使用这种等效电容。一旦确定整体系统时间常数，可以把其转换成上升时间和带宽，预测探头对系统整体系统的影响。 500)this.style.ouseg(this) 探测位置的影响 由于探头是电路的一部分，而电路又是探头的一部分，因此可以预测两个感兴趣的点上的影响 (即接收机和探针)。探头的影响中一个主要变量是其在目标传输线上的位置。通过其在传输线上的相对位置，可以确定探头导致的反射。反射影响的严重程度取决于目标系统(即轨迹长度、端接方案、电压余量等。图2是一个标准传输线系统，其中列出了连接逻辑分析仪探头的最常用位置。 负荷端接系统 在负荷端接系统中，负荷端接电阻器仅用于传输线设计中。引入的反射被吸收到接收机上的端接电阻器中。如果这些反射和入射波或后续波同时到达，它们本身会表现为上升时间劣化或码间干扰(ISI)。在把逻辑分析仪探头连接到系统上时，探头将表现为电容不连续点。把探头插入这类系统中的最佳位置是信号源。首先，探头反射会即时发生在驱动装置上。然后这种反射会再次反射离开低阻抗驱动装置，并与入射波一起沿着传输线传送。收到的波形会经历上升时间劣化，但二次反射最小。其次，为降低电容负荷对系统的影响，探头形成的RC时间常数应尽可能低。不能改变探头的电容，但时间常数的电阻/阻抗取决于探头的位置。通过在信号源插入探头，时间常数的电阻/阻抗是低阻抗驱动装置与传输线阻抗的并联组合。这种组合在系统中产生了最低的电阻/阻抗，进而产生了最低的RC时间常数。 源端接系统 在源端接系统中，仅使用图2中的源端子。入射波在源端接电阻和传输线阻抗之间进行幅度划分。半幅度波传导到接收机上，在这里，其被100%正反射。这种反射本身会与入射波叠加在一起，产生驱动装置的原始幅度。反向传导反射会传回驱动装置，然后它被吸收到源端接电阻器中。源端子采用相应的结构，使得在除接收机之外的传输线任何位置上，观察到的波形都呈现出梯级形状。通过把其与用户定义的门限电压(通常以电压摆幅为中心)进行比较，逻辑分析仪确定被探测的信号是1还是0。这意味着如果逻辑分析仪探头位于直接接收机之外的任何地方，都将观察到这种梯级波形形状。在波形位于摆幅中间的时长内，逻辑分析仪将不能确定逻辑电平。这直接影响着分析仪的定时性能。对源端接系统，逻辑分析仪探头的位置应尽可能接近接收机。 双端接系统 在双端接系统中，传输线中同时使用源电阻器和端接电阻器。在这种系统中，由于源端接电阻器和负荷端接电阻器形成的电阻分路器，只有一半的原始信号会到达接收机。逻辑分析仪探头一般会放在这类系统上任何地方。主要考虑因素是探头的RC时间常数。但是，在系统的任何位置上，电阻/阻抗将是线路特性阻抗的1/2 (即50Ω//50Ω)。由于在探针上只能观察到一半的原始电压电平，设计人员必须保证满足逻辑分析仪的最小电压摆幅规范。 短线探测 短线探测是指探针不能直接放在目标的传输线上。探针和目标信号之间敷设的轨迹长度称为短线。短线可以由PCB轨迹、导线或连接器引线组成。由于PCB上的布局限制，很难避免短线探测。问题是探针离传输线的距离必须有多近、同时仍能在系统和逻辑分析仪中实现可以接受的性能？ 在谈论传输线时，使用的经验法则也适用于逻辑分析仪短线。经验法则取决于系统上升时间。对逻辑分析仪，建议短线的电长度不超过系统上升时间的20%。对小于系统上升时间20%的电长度，可以把短线视作阻尼电阻，而不是分布式传输线。但是，在短线长度提高时，电容会大幅度提高。在某一点上，电容会超过探头的总电容。 下面的实例说明了特定上升时间可以接受的最大短线长度。这一实例使用150ps/inch的传播速度，这在FR4介电PCB中非常典型。对标准50 Ω, FR4微带传输线，单位电容一般是3pF/inch。 实例 如果我们看一下通过1英寸短线连接到