分片检验.pptxVIP

分片检验（patch test）;基本概念;尽管只是当单元片的尺寸趋于很小（无穷小）时才需要进行这一试验，但对大多数多项式单元来说，单元片的尺寸并未达到这种极限情况，然而现在各种尺寸的单元片都要进行分片试验已成为一种标准。 由于 Stummel 给出了一个通过分片检验但不收敛的单元，以及 Sander 和 Beckers 给出了两个不通过分片检验但却收敛的单元，因而分片检验是收敛的充要条件受到怀疑。即便如此，分片检验仍是测试单元收敛性的有效工具。;收敛性要求; 由有限元近似处理的标准过程，问题转化为一个求解线性代数方程组的问题，即 对其进行求解，可得到针对原微分方程及边界条件的近似解。 从逼近意义上来看，所谓收敛是指，当单元尺寸h趋于零时，近似解 应该趋近于精确解u。从数学角度讲，即我们必须保证在任意一个点上的误差满足（当h足够小时） ??近似过程中u的所有导数来说，也应该满足误差控制关系式。; 为保证收敛，近似过程必须满足一致性条件和稳定性条件。 一致性条件：要求当单元尺寸h趋于零时，近似方程式（10.4）可以代表原始微分方程（10.1）及边界条件式（10.2）。 稳定性条件：离散后的方程式（10.4）的解是唯一的。 分片检验传统上曾被用于证实上面提到的一致性条件；稳定性条件则是通过确保矩阵的非奇异来保证的。分片检验也可以评价一个单元的稳定程度。