调试设计芯片设计中必不可少之举 design for debuggingthe unspo ken imperative in chip design.pdfVIP

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2017-08-22 发布于上海
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调试设计芯片设计中必不可少之举 design for debuggingthe unspo ken imperative in chip design.pdf

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调试设计芯片设计中必不可少之举 design for debuggingthe unspo ken imperative in chip design

金属间距，问题就不是那么简甲r。必须将电路设计成具有从芯片外部能控制和能观察的，而在成奉和时间预算上不超卅我们的目标。” 这种情况，简虮扼要地描述了调试设计界的情况。技术概览自目试与DFT并不是完垒脱离的。 B∞adcom公司的惯4试开发工程高级总嗡K五sHIblitz举例介绍说，B“硷d∞m 有一个由70多名工程师组成的公司级团队，他们与公司其它的芯片设计团队共同从事调试和测试。IIubl妇冉三调试设计：芯片调试策略的主荽合作伙伴。其他人也同意这种观点。“调试设计与生产删试并不是毫无关系，” 芯片设计中 cSRfcambridgesiliconRadl01的副总裁DavidMccall说。“两者的起点差不多。” 必不可少之举很多设计经理强调，这一起点就是探i，电路的能摔性和能观性。调试与生产测试相似，基本问题是将电路设置在-个已知的状态，然岳丹嫡运行，观察其行为。在中等规模的集成中，边界扫描技术可有效地完成此任务。由于芯片内部状态较少，可以今面地对其进行测试：将输入通过已知测燃裂囊兰的一系列状态，对电路进行时钟同作，而不是绝对的稳定性。现存芯片需要，而且，实际上也往往是如此。随步，然后观察输出。设¨崮队普遍认阻到，这需要ZI二芯片着soc(单片系统)设1_f越来越复杂，随着微处理器的出现，事情变得卜添加DFT(可测试设计)电路。第·流的设计团队表示，他们将对支持更加复杂r。微处珲措有很多内部状三方工具