一种提高固态盘可靠性的设计方法-西北工业大学学报导航页.PDFVIP

2013 8 西北工业大学学报 Aug． 2013 年 月 31 4 Journal of Northwestern Polytechnical University Vol． 31 No． 4 第 卷第 期 一种提高固态盘可靠性的设计方法 ， ， 蒋泽军 秦 楠 李艳艳 ( ， 710072) 西北工业大学计算机学院 陕西西安 : 一种 LS-ＲAID( Logic-level Striping Ｒedundant Array of Independent Disks) 固态盘 ( Solid 摘 要 提 出了 State Disk ，SSD) 。 ， ， 设计模型 在单个 闪存芯片内 该模型在逻辑层 实现 了条带化 并将校验信 息按照 ＲAID5 ， 。 DiskSim ， 机制分配到逻辑闪存芯片中 从而提高了固态盘可靠性 使用 进行仿真测试 表 明该 ， ， 。 模型在提高可靠性的同时 对 固态盘平均寿命和损耗均衡影响不大 具有实用价值 : ， ， ， 关 键 词 校验信 息 固态盘 条带化 可靠性 中图分类号:TP333 文献标识码:A 文章编号:1000-2758 (2013)04-0660-04 基于NAND 闪存(NAND Flash)的固态盘［1］继 1. 1 符号定义 ， 、 、 blk ，Ps 承了闪存的特性 因其读写速度快 防震抗摔 功耗 本文用 表示子请求的扇区号 表示每一 、 ， ，Pg ，lpn 低 系统掉电后数据不丢失等诸多优点 已在存储领 页的扇区数 表示物理页号 表示子请求对应 。 ， 域得到了广泛应用 固态盘由多个闪存芯片组成 的条带号，elem － p 表示条带的校验信息位，elem 表 。 每个闪存芯片又由多个数据块组成 闪存的高错误 ，P ，n 示子请求对应的芯片号 表示校验信息 表示条 。 率和有限的擦除次数使固态盘可靠性降低 目前固 带大小。 态盘采用 MLC (Multi Level Cell)［2］闪 ， 存单元 由于 1. 2 LS-ＲAID 固态盘结构设计 MLC ， ， MLC 结构相对复杂 出错几率较大 并且 只能 ， 为了提高固态盘