实验十四采样控制系统及分析.docVIP

实验十四 采样控制系统的分析 一、实验目的 2. 熟悉用LF398组成的采样控制系统； 3. 通过本实验进一步理解香农定理和零阶保持器ZOH的原理及其实现方法； 3. 观察系统在阶跃作用下的稳态误差。研究开环增益K和采样周期T的变化对系统动态性能的影响； 二、实验设备 同实验一 三、实验内容 1. 利用实验平台设计一个对象为二阶环节的模拟电路，并与采样电路组成一个数-模混合系统。 2. 分别改变系统的开环增益K和采样周期TS，研究它们对系统动态性能及稳态精度的影响。 四、实验原理 1. 采样定理 图14-1为信号的采样与恢复的方框图，图中X(t)是t的连续信号，经采样开关采样后，变为离散信号。 图14-1 连续信号的采样与恢复 香农采样定理证明要使被采样后的离散信号X*(t)能不失真地恢复原有的连续信号X(t)，其充分条件为： (14-1) 式中为采样的角频率，为连续信号的最高角频率。由于，因而式(14-1)可写为 (14-2) T为采样周期。 采样控制系统稳定的充要条件是其特征方程的根均位于Z平面上以坐标原点为圆心的单位圆内，且这种系统的动、静态性能均只与采样周期T有关。 2. 采样控制系统性能的研究 图14-2为二阶采样控制系统的方块图。 图14-2 二阶采样控制系统方块图 由图14-2所示系统的开环脉冲传递函数为： 闭环脉冲传递函数为： 根据上式可判别该采样控制系统否稳定，并可用迭代法求出该系统的阶跃输出响应。 五、实验步骤 1. 零阶保持器 本实验采用“采样-保持器”组件LF398，它具有将连续信号离散后的零阶保持器输出信号的功能。图14-3为采样-保持电路。图中MC14538为单稳态电路，改变输入方波信号的周期，即改变采样周期T。 图14-3 采样保持电路 图中方波信号由实验台的低频信号发生器提供。 接好“采样保持电路”的电源。用上位软件的“信号发生器”输出一个频率为5Hz、幅值为2V的正弦信号输入到“采样保持电路”的信号输入端。在下列几种情况下用示波器观察“采样保持电路”的信号输出端。 1.1 当方波(采样产生)信号为100 Hz时； 1.2 当方波(采样产生)信号为50 Hz时； 1.3 当方波(采样产生)信号为10Hz时； 注：方波的幅值要尽可能大。 2. 采样系统的动态性能 根据图14-2二阶采样控制系统方块图，设计并组建该系统的模拟电路，如图14-4所示。 14-4 采样控制二阶系统模拟电路图 电路参考单元为：U3、采样保持器单元、U5、U4、反相器单元 图14-4积分单元中取C=1uF，R=100K(k=10)时，在r输入端输入一个单位阶跃信号，在下面几种情况下用上位机软件观测并记录c(t)的输出响应曲线，然后分析其性能指标。 2.1 当采样周期为0.005S(200Hz)时； 2.2 当采样周期为0.05S(20Hz)时； 2.3 当采样周期为0.2S(5Hz)时； 2.4 将图14-4中电容与电阻更换为C=1uF，R=51K(k=20)时，重复步骤2.1、2.2、2.3。 注：实验中的采样周期最好小于0.25S (大于4Hz)。 六、实验报告要求 1. 按图14-2所示的方框图画出相应的模拟电路图； 2. 研究采样周期T的变化对系统性能的响应。 七、实验思考题 1. 连续二阶线性定常系统，不论开环增益K多大，闭环系统均是稳定的，而为什么离散后的二阶系统在K大到某一值或采样时间TS很小时会产生不稳定？ 2. 试分析采样周期T的变化对系统性能的影响？