多通道si-pin探测器漏电流测量系统的设计和实现 design and implementation of multi-channel leakage current measurement system.pdfVIP

第36卷第6期 核电子学与探测技术 V01．36No．6 2016年6月 NuclearElectronicsDetection June．2016 Technology 多通道Si—PIN探测器漏电流测量系统 的设计和实现 刘少真，顾煜栋，曹学蕾 (中国科学院高能物理研究所，北京100049) 摘要：中能望远镜是硬x射线望远镜卫星三大载荷之一，其探测器采用的是大面积Si—PIN探测 器阵列。探测器的漏电流是影响x射线谱仪能量分辨率的一个关键因素。中能望远镜项目组在研发si —PIN探测器的常温筛选环节中，将探测器漏电流作为一项重要考核指标。为了对探测器漏电流实现 高精度、快速的测量，研制了多通道Si—PIN探测器漏电流测量系统。测量结果表明，使用该系统得到 的漏电流结果精度较高，可直接应用到项目研制中去。 关键词：中能望远镜；Si—PIN探测器；漏电流测量；多通道 821 中图分类号：TL 文献标志码：A 文章编号：0258-0934(2016)6-0625-03 中能望远镜(ME)是硬X射线调制望远镜放大器的输入级，有以下3种噪声来源：并联电 (HXMT)卫星三大有效载荷之一，其基本功能 阻引起的热噪声、串联电阻引起的热噪声，以及 是对5—30keY能区进行巡天和定点观测。 探测器漏电流引起的噪声。前两种噪声可以从 ME探测器部分采用了Si—PIN阵列探测器的 探测器设计上将其大大降低，此时探测器噪声 技术方案，由项目组自行研发设计的l728个 可以只限于由漏电流引起的噪声。漏电流噪声 Si—PIN探测器像素组成了面积为952cm2的 是纯散粒噪声，电流起伏的均方值口1是： 大面积探测器阵列。Si—PIN探测器是一种比 (i：)=21。9厂 较成熟的半导体探测器，常用于探测x射线、1 其中J。是探测器的漏电流，，是测量噪声 射线和仅粒子等，具有漏电流小、响应时间快、 的频率间隔。 结电容小和能量分辨率高等优点。 因此，在ME生产探测器的过程中，将探测 衡量x射线谱仪系统探测性能的一个重 器漏电流大小作为常温筛选环节的一项重要指 要指标就是能量分辨率，该值跟噪声水平直接 标。ME自己研发设计的单只探测器面积为56 相关，噪声越大，能量分辨率越差。x射线谱仪 mm2，厚度为1mm，每只探测器包含4个像素。 系统中有很多器件如探测器、读出电路采用的 目前，各实验室测量探测器漏电流的主流设备 场效应管和电阻等都会产生噪声。前置放大器 的第一级产生的噪声得到的放大倍数最大，所 fA一20 是单路高速电流测量设备，可测量20 以对整体噪声贡献最多uJ。探测器作为前置 mA范围内的电流，读数率比较高，最多可按照 每秒l000个读数的速度进行高速测量，其内 收稿日期：2016—05—24 部的电压源可提供的高压范围为200恤V一505 作者简介：刘少真(1987一)，女，河南平顶山人，博士V—J，这些特点使其在测量探测器I—V特性的 研究生，现为助理研究员，从事核探测器与核电子学 场合得到了极为广泛的应用¨J。ME探测器阵 研究