GB/T 5594.3-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法　第3部分：平均线膨胀系数测试方法.pdf

ICS31-030 L90 中华人 民共和 国国家标准 / — GBT5594.3 2015 代替 / — GBT5594.3 1985 电子元器件结构陶瓷材料 性能测试方法 : 第 部分 平均线膨胀系数测试方法 3 Testmethodsfor roertiesofstructureceramic p p — usedinelectroniccom onentsanddevice p : Part3Testmethodformeancoefficientoflinearexansion p 2015-05-15发布 2016-01-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发 布 中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 / — GBT5594.3 2015 前 言 / 《 》 : GBT5594电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 的结构如下 ———气密性测试方法( / ); GBT5594.1 ———杨氏弹性模量 泊松比测试方法( / ); GBT5594.2 ——— : ( / ); 第 部分 平均线膨胀系数测试方法 3 GBT5594.3 ——— : ( / ); 第 部分 介电常数和介质损耗角正切值测试方法 4 GBT5594.4 ———体积电阻率测试方法( / ); GBT5594.5 ——— : ( / ); 第 部分 化学稳定性测试方法 6 GBT5594.6 ———