单片机技术试验指导书-机械与材料工程学院.doc

《单片机技术》 实验指导书 机械与材料工程学院 2016年9月 目 录 实验一 数据传送(RAM–XRAM) 1 实验二 P1口数据输入、输出实验（跑马灯实验） 4 实验三 P1口数据输出实验（交通灯控制实验） 8 实验四 外部中断实验(急救车与交通灯) 12 实验五 8279键盘显示实验 15 实验六 电子钟(定时器、中断综合实验) 18 实验七 8250可编程通信实验(与微机) 21 实验八 并行AD实验(数字电压表实验) 26 实验九 并行DA实验(信号发生器实验) 30 实验十 继电器控制实验 33 实验十一 GPRS通信实验 35 实验十二 电子温度计实验（18b20） 40 实验十三 图形点阵显示实验 44 附录一 STAR ES598PCI实验仪硬件结构 59 附录二 星研集成环境软件简介 60 实验一 数据传送(RAM–XRAM) 一、实验目的 1、熟悉星研集成环境软件或熟悉Keil C51集成环境软件的使用方法。 2、掌握80C51内部RAM和外部RAM之间的数据传送方法；掌握这两部分RAM存贮器的特点与应用，掌握各种数据传送方法。 3、熟悉80C51汇编指令，能自己编写简单的程序，掌握数据传输的方法。 二、实验设备 STAR系列实验仪一套、PC机一台 三、实验内容 1、熟悉星研集成环境软件或熟悉Keil C51集成环境软件的安装和使用方法。 2、编写并调试一个数据传送程序：将30H～3FH数据送到数据存贮器1000H～100FH中。实现内外部数据段的传送、校验。 四、实验框图 五、实验步骤 1、运行程序前，打开变量窗、二个存贮器窗（一个选择片内数据；一个选择片外数据，起始地址选择1000H）。 2、在内部RAM 40H～4FH中输入数据；使用单步、断点方式调试程序，检测外部数据RAM的7E00H～7E0FH中的内容。 3、熟悉查看特殊功能寄存器、内部数据RAM、外部数据空间的各种方法。 【注意】实验箱中已经将单片机最小电路（电源、时钟电路及复位电路）连接完成，因此，该部分不再需要连线。 六、程序清单 #includereg52.h #includeintrins.h main() { unsigned char data *point1 //片内存储器地址指针 unsigned char xdata *point2 //片外存储器地址指针 unsigned char i; //个数计数 point1 = 0x40; for(i=0;i16;i++) { *point1 = i+1;point1++; } //给0x40开始地址赋值1～0x10 point1 = 0x40; point2 = 0x7E00; for(i=0;i16;i++)//将地址0x40开始的数据送给0x7E00开始的16个地址 { *point2 = *point1; point1++; point2++; } while(1) { } }七、思考题 编写程序分别实现以下功能： ①将外部数据存贮区1000H～100FH中的数据送到80C51内部RAM 40～4FH中。 ②将外部数据存贮区1000H～100FH的内容写入外部RAM 3030～303FH中。 实验二 P1口数据输入、输出实验（跑马灯实验） 一、实验目的 1、通过实验了解单片机最小系统。 2、了解P1口作为输入、输出方式使用时，CPU对P1口操作方法。 3、学习延时子程序的编写和使用。 二、实验设备 STAR系列实验仪一套、PC机一台 三、实验内容 1、P1口做输出口，接G6区的八个发光二极管（其输入端为低电平时发光二极管点亮），编写程序，使发光二极管循环点亮(瞬间只有一个灯亮)。 2、P1.0、P1.1作输入口接两个拨动开关S21、S22；P1.2，P1.3作输出口，接两个发光二极管DS35、DS36，编写程序读取开关状态，将此状态在发光二极管上显示出来。 【注意】P1口是准双向口，它作为输出口时与一般的双向口使用方法相同。由准双向口结构可知当P1口用作输入口时，编程时必须先对口的锁存器写“1”；若不先对它写“1”，读入的数据是不正确的。 四、实验原理图 【注意】本实验指导书中的原理图只给出了重要部分原理图，单片机最小系统均未给出，请学生参考教材补充完整。 P1口循环点灯原理图 P1口输入输出原理图 五、实验流程图 六、实验步骤 ㈠P1口输出实验 1、连线说明： A3区：JP51 —— G6区：JP65 【注意】实验箱上单片机的P1口（A3区JP51插槽）分别接八个发光二极管