80C31单片机系统伽玛剂量率闭锁窗口现象研讨.pdfVIP

1 1 十 80031单片机系统伽玛剂量率闭锁窗口现象研究 十 | 杨怀民 中物院电子工程研究所成都市517信箱114}610003) 摘要 在 6Nvx闪光机上对8OC31单片机系统进行了伽玛剂里率辐照试验.在试验中还 观察到7计算机系统的闭锁窗口现象. 在伽玛剂童串 5.91E+8rads(Si)/。至2.86E十9 rads(Si)/s之间8OC31单片机系统发生了闭锁，程序中断.只有在电a关断若千时间以后重新接 通计算bL才能重新恢复T-作.在伽玛剂量率3.69E+9rads(Si)/s至7.77E+10rads(Si)/s之间 8OC31单片机系统仅发生程序不同时间的中断 计算机仍然能够继续工作。本文还对闭锁窗口现 象进行了讨论。 经过加固后在伽玛剂里率9.21E+8rads(Si)/s至9.15E+10rads(Si)/s之间未发现闭锁现 象，仅观坎到不同时间程序的中断 计算机仍然能够继续工作。 关键词 单片机系统 瞬态辐照效应 闭锁窗口 引言 CMOs工艺集成电路瞬时辐照效应损伤主要是闭锁效应，这是因为CMOs电路工 艺中有PNPN四层结沟，在瞬时辐照下由于内部PN结产生的瞬时光电流会使器件产 生闭锁.闭锁可以分成两种类型:第一类称为强闭锁，这种闭锁能维持下去，直到 切断电源方能消除闭锁的错误状态;第二类称为弱闭锁，这种闭锁的特征是不会长 期维持，闭锁状态在延迟一段时间合会自行消失，电路恢复正常Ss) 集成电路不分集成规模大小均能观察到闭锁现象，瞬时辐射产生的强光电流会 在集成电路内部的绝缘阱，衬底及金属化层区域产生很大的电压降，这种分布效应 在大规模集成电路中产生关键性的效应。这种光电流的流动通道和电路的拓扑结构 设计有关，光电流的这种分布效应是造成集成电路闭锁窗口效应的根本原因12) 单片机系统由多种大规模集成电路和其他各种集成电路组成，同样有闭锁窗口 现象。在研究单片机计算机系统的闭锁规律试验中发现了单片机计算机系统也有闭 锁窗口现象。 本文介绍了单片机计算机系统在瞬态辐照试验时的一些闭锁窗口试验结果.并兹 一‘’ .-14-亡,‘ 杨怀民:80031单片机系统伽玛剂盘率闭锁窗口现象研究 作了一些简单的讨论。 2试验原理和方法 80031单片机样品计算机系统 辐照试验用的80031单片机系统由以下几种主要芯片组成:P80C31BHCPU, CXK5864PNSRAM,AT28C64EEPROM,28F256AFLASHROM,UM82C55I/0,GA100-RH 门阵列，晶体DFJ311及锁存器和驱动器等芯片组成。系统组成框图如下所示: 图180031单片机系统组成框图 为了监测系统的闭锁情况，编制了试验程序对各芯片的工作进行了初始