光电成像系统中的微扫描技术研究.pdfVIP

第32卷增刊 光学技术 V01．32 Suppl． 2006年8月 OPTICALTECHNIQUE 2006 August 文章编号：1002—1582(2006)S-0438—03 光电成像系统中的微扫描技术‘ 孟海鸿1，-，张新1，张建平1 (1．长春光学精密机械与物理研究所技术光学室，长春130033；2．中国科学院研究生院，北京100039) 摘要：在介绍微扫描成像原理的基础上，介绍了目前国际上流行的各种微扫描技术，分析了它们各自的特点和利 弊因素，以及在关键技术上有望取得的突破。 关键词：微扫描；焦平面阵列；压电驱动；光电调制器 中图分类号：TN206；TN911．73文献标识码：A in Microscanningtechnologyphotoelectric imagingsystem MENG Xinl，ZHANG Hal．hon91一，ZHANG Jian—pin91 Instituteof Mechanicsand (1．ChangchunOptics，Fine 130033，China) Physics，Changchun Schoolof (2．GraduatetheChinese of 100039．China) AcademySciences，Beijin Abstract：Based011the ofthe aroundtheworld analysismicroscanningimagingpfindpe，severalmieroscanningequipments are their and are be mi— intrdueed，andrespective the will brokeninthe advantagesdisadvantagesanalyzed，andkeytechnology domain． crorc_anning words：microscan；focal modulor Key planearray；piezoelectricitydrive；optical—electric 合成。我们可以在水平方向和垂直方向实现这种移 1引言 动来提高相应坐标方向的分辨率。根据奈奎斯特 目前，世界各国都在许多领域发展微扫描技术， 以此来提高线性或凝视焦平面阵列的性能。国外从 空间取样频率的一半，合成的新图像的空间分辨率 20世纪70年代就提出了微扫描的理论，90年代已在理论上提高一倍。同时把多幅具有不同而又相关 成功的研制成了带有微扫描装置的红外成像系统，