第二章 X射线衍射分析原理.ppt

第二章 X射线衍射分析原理;2.1 概述;2.1 概述;2.1 概述;1914;二、X 射线的本质;光的干涉与衍射 ;X 射线的本质; 在伦琴的两名研究生弗里德里希（W. Friedrich）和克尼(Knipping)的帮助下，劳厄进行了第一次X射线衍射实验，并取得了成功。 　　第一次X射线衍射实验所用的仪器。所用的晶体是硫酸铜。 ;　劳厄法X射线衍射实验的基本装置与所拍的照片?;爱因期坦称，劳厄的实验“ 物理学最美的实验”。它一箭双雕地解决了X射线的波动性和晶体的结构的周期性。;二、X 射线的本质;μ＝c／λ ;X射线的波长范围：10- 0.001nm　　　　 ;X射线的波长范围：100- 0.01? 或 10-0.001nm 　　硬X射线： 0.05-2.5 ?　　　　　　0.5-2.5　?　主要用于晶体结构分析　　　　　　0.05-1 　?　主要用于金属探伤等　　软X射线：10-100 　?　主要用于医学 　　 波长的单位：nm（纳米） 　 法定单位　　　　　　? 　　　　过去的常用单位　　　　　　KX 　　　晶体学单位（不常用）　　换算关系： 1nm =10 ?;X射线粒子性：　　X射线的粒子性表现在它是由大量的不连续的粒子流构成的。它具有一定能量和动量。　　能量ε和动量p与X射线光子的频率v和波长λ之间的关系如下：　ε＝hv=hc/λ 　　　　p＝h/λ　　h为普朗克常数，为6.625×10-34J·s 　　c 为光速，为2.998×108m/s 　 ;X射线衍射分析的用途;2.2 X射线物理学基础;X射线的产生与X射线管;X射线的产生与X射线管;X射线的产生与X射线管;X射线的产生与X射线管;1、连续光谱 电子和阳极碰撞速度降低，产生电磁波，部分电子经多次碰撞产生一连续光谱 ; 2、特征X射线谱 当电压加到25 kV时， Mo靶的连续X射线 谱上出现了二个尖锐 的峰Kα(0.071 nm) 和Kβ(0.063 nm)。;Kα波长比Kβ长，Kα与Kβ强度比约为5：1。　　放大看，Kα还分为Kα1和Kα2两条线。Kα1和Kα2强度比约为2：1。 ; 随着电压的增大，其强度进一步增强，但波长不变，也就是说，这些谱线的波长与管压和管流无关。　　它与靶材有关。对给定的靶材，它们的这些谱线是特定的。因此，称之为特征X射线谱或标识X射线谱。产生特征X射线的最低电压称激发电压。;不同靶材料具有不同波长的特征X射线和激发电压 ;莫塞莱定律; 3、特征X射线产生的机理;;说明：1) 激发电压对不同的阳极靶是不同的，它由阳极靶的原子序数Z所决定。2) 阳极靶不同产生的特征X射线的波长不同。3）工作电压一般是激发电压的3-5倍。因为当工作电压激发电压的3-5倍时，I特/I连最大。4）实验中最常用的特征X射线是Kα。最常用的靶材是Cu和Fe。5） λKα= 2/3λKα1+1/3λKα2,有时需要注意区分Kα1和Kα2。 ; 三、X射线吸收性质; 三、X射线吸收性质 I = I0e-?x I—X射线强度 I0—初始X射线强度 x—物质厚度 ?—物质的线性吸收系数，其意义是当X射线通过物质时，在X射线传播方向上，单位长度上X射线强度的衰减程度（cm-1 ）。它与物质的种类、密度和X射线波长有关。 ? ? Z4?n Z—原子序数 n—2.5~3 ;1）吸收系数随波长的增大而增大, 且在一定区间内是连续变化的。这是因为X射线的波长越长越容易被物质所吸收。2）在某些波长的位置上产生跳跃式的突变。即吸收限（吸收边）或激发限的存在。 ;（1）滤波片的选用;Ni 的吸收限: 0.14869nmCu靶X射线:Kα=0.15418nm Kβ=0.13922nm ;一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。当Z靶＜40时， Z滤=Z靶-1 当Z靶≥40时， Z滤=Z靶-2 ;（2）不同阳极靶X射线管的选择 ;几种元素K系射线波长及其吸收限 ; 选用特征波长大于或远小于样品中各元素的K吸收限的靶材 Z靶≤Z样品+1 或 Z靶Z样品 一般靶材的原子序数比样品中元素的原子序数小，或大4-5以上;2.3 X射线衍射晶体学基础; 晶体的空间点阵理论的提出基于一个假设，即晶体是无限大的。由于实际晶体的大小远超出晶体结构的重复周期，可以认为晶体构造是在三维空间无限伸展。 具有不同结构的晶体可以有相同的空间点阵（空间格子），如NaCl和金刚石。由同种