应用最全面的在线测试受限接入解决方案—案例分析-Keysight.PDFVIP

是德科技 Medalist i3070在线测试— 应用最全面的在线测试受限接入 解决方案—案例分析 作者 Jun Balangue, 是德科技 摘要 : 由于当代电子产品尺寸越来越小，而复杂程度日益增加，在线测 试 (ICT) 受到的电气测试接入限制越来越多。消费者对更高产品 性能的追求，以及对便携尺寸外形的注重，是电子产品小型化和 复杂化的主要推动力。许多此前主要用于高端产品的受限测试工 具目前已开始进入消费产品测试领域。与此同时，新技术也在不 断开发中，以完善现有的工具。这意味着当今用户面临着广泛的 选择。本文将介绍目前最先进和最高效的在线测试工具 Keysight Medalist i3070 ICT Super 7套件。 介绍 在线测试 (ICT) 与针床测试类似，均使用测试探针和夹具 ( 参见图 1) 进行印刷电路 板组件 (PCBA) 。夹具上的测试探针将通过一个测试点与 PCBA 接触。在线测试的 原则是 PCBA 中的每个器件引脚或节点连接都需要一个测试点 ( 参见图 2) ，但这会 带来挑战，原因在于当前 PCBA 技术 ( 例如差分高速信号和减小的 PCB 尺寸 ) 增加了 为 PCBA 中每个节点或器件引脚设置测试点的难度。 图 1. 在线测试方法使用测试点、测试探头和夹具 ( 针床 ) 测试器件或 PCBA 。 图 2. 带有测试点和焊珠探头的 PCBA 03 | Keysight | Medalist i3070 在线测试—应用最全面的在线测试受限接入解决方案 - 案例分析 Keysight Medalist i3070 ICT 平台全面 减少节点数量 4. Digital libraries —数字器件测试 的受限接入可通过 7 个功能强大的测 程序库 第一步，使用是德科技接入顾问分析 试工具与方法，帮助用户克服接入受 电路板，以确定在不影响测试覆盖范 5. BSDL文件，用于边界扫描器件 限带来的挑战。Super 7 套件包括 : 围情况下可以移除的节点。是德科技 1. 接入顾问 接入顾问将分析 PCBA 电路板信息， 是德科技接入顾问通过选择分析模式 2. 焊珠探头 并识别可以移除且不会影响测试覆盖 和测试技术来分析探针要求。在本例 3. 覆盖扩展 范围的节点 ( 参见图 3) 。 中，电路板 A 和 B 选择的分析模式均 4. Drive Thru 为“更新 ( 支持探针接入更改 ) ”( 参 5. IEEE 1149.1 边界扫描 运行是德科技接入顾问需要以下文件 : 见图 3) 。该模式将分析电路板目录 6. IEEE 1149.6 边界扫描 1. Board Keysight Medalist i3070 “配置 ( config)”文件中安装和支持 7. Silicon Nails 文件格式，包含电路板器件信息 的测试技术。“board_xy”文件包含