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红外光谱技术的近代进展及其应用 摘要　对红外光谱技术的近代进展，如漫反射、衰减全反射、联用技术、差谱技术和数据压缩等及其应用作了简单地介绍。 　　关键词　漫反射　衰减全反射　傅立叶变换红外光谱　联用技术　差谱　数据压缩　红外光谱　数据库 1.外光谱硬件技术发展概况1-3 　　到目前为止，红外光谱仪的发展大体可分为三代，第一代是用棱镜作为分光元件，其缺点是分辨率低，仪器的操作环境要求恒温恒湿等；第二代是衍射光栅作为分光元件，与第一代相比，分辨率大大提高、能量较高、价格角便宜、对恒温恒湿的要求不高；第三代是傅立叶变换红外光谱仪（FTIR）具有高光通量、低噪音、测量速度快、分辨率高、波数准确度高、光谱范围宽等优点，扩展了红外光谱技术的应用领域。上述三代红外光谱技术一般都是指透射红外光谱技术，由于投射红外光谱技术存在如下不足：1）固体压片或液膜法采集制样麻烦，光程很难控制一致，给测量结果带来误差。2）大多数物质都有独特的红外吸收，多组分共存时，谱峰重叠现象普遍。所以，对某些样品的测试仍有较大的局限性。漫反射、衰减全反射等硬件和差谱等软件的要求，大大扩展了红外光谱技术的应用领域。 1.1 漫反射（diffuse reflectance）傅立叶变换红外光谱技术1，4，5 　　漫反射傅立叶变换红外光谱技术是一种对固体粉末样品进行直接测量的光谱方法。 　　当光束入射至粉末状的晶面层时，一部分光在表层各晶粒面产生镜面反射；另一部分光则折射入表层晶粒的内部，经部分吸收后射至内部晶粒界面，再发生反射、折射吸收。如此多次重复，最后由粉末表层朝各个方向反射出来，这种辐射称为漫反射光，由于反射峰通常很弱，同时，它与吸收峰基本重合，仅仅使吸收峰稍有减弱而不至于引起明显的位移，对固体粉末样品的镜面反射光及漫反射光同时进行检测可得到其漫反射光谱。漫反射率和样品浓度的关系可用下式表示： 　　F(R∞)=(1-R∞)2/2R∞=2.303∈C/S 　　上式叫做Kubelka-Munk方程。式中R∞表示样品厚度大于入射光透射深度时的漫反射光谱（含镜面反射）；S为粉末层散射系数；C、?分别为摩尔浓度、摩尔吸收率。上述方程又称为漫反射光谱中的朗伯定律。 　　由于漫反射傅立叶变换红外光谱法不需要制样、不改变样品的形状、不要求样品有足够的透明度或表面光洁度，不会对样品造成任何损坏，可直接将样品放在样品支架上进行测定，可以同时对多种组分进行测试，这些特点很适合催化的原位跟踪研究，也很适合对珠宝、纸币、邮票的真伪进行鉴定 　　江琦等用漫反射红外光谱技术研究了二氧化碳、甲烷在催化剂Ni/Al2O3表面的物种及催化机理。由于二氧化碳在催化剂表面的吸附较弱，使用通常的透射红外光谱技术难以达到另人满意的结果，影响到反应机理的研究。用漫反射红外光谱技术，使这个问题得到了完满的解决。 1.2衰减全反射傅里叶换红外光谱6-8 　　20世纪80年代初将显微镜技术应用到傅立叶变换红外光谱仪，诞生了全反射傅立叶变换红外光谱（ATR/FTIR）仪，ATR/FTIR使微区成分的测试和分析变得简单而快捷，检测灵敏度达数纳克（ng）测量显微区直径达数十米。近年来，随着计算机技术和多媒体图视功能的运用，实现了非均匀样品和不平整样品表面的微区无损测量，获得了官能团和化合物在微区空间分布的红外光谱图象。 　　显微ATR红外光谱图像系统是由FTIR红外光谱仪、显微镜及射像系统、显微ATR、计算机及图像软件组成。将显微ATR镜头直接插入显微镜物镜上即可做微区样品的表面测量。在计算机控制下载物台在X、Y、Z三个方向自动移动以确定测量区域及聚焦。首先利用可见光将样品表面微区的可见显微图像通过装在显微镜上的摄像机传递到显示屏上，用户可用鼠标器对着屏幕进行定位、选点，并对样品进行标定，然后将选取的样品点的大小、位置存入计算机。之后，载物台自动抬高，是显微ATR镜头与样品接触，系统便开始对各点进行红外光谱采集。该系统可进行点、线（不用ATR）、面的红外光谱图存入计算机，经过一定的数据处理使得不同化学官能团及化合物在微区分布的三维立体图或平面图，并以化合物在微区分布的三维立体图或平面图，并以彩色图像显示在屏幕上，当鼠标指向图像某点时，该点的红外光谱就实时的显示出来。衰减全反射不需要透过样品的信号，而是通过样品表面的反射信号获得样品表层有机成成分的结构信息，因此，衰减全反射具有如下特点： 　　1）破坏样品，不需要像透射红外光谱那样要将样品进行分离和制样。对样品的大小，形状没有特殊要求，属于样品表面无损测量；2）可测量喊水和潮湿的样品；3）检测灵敏度高，测量区域小，测量点可为数微米；4）能得到测量位置处物质分子的结构信息、某化合物或官能团空间分布的红外光谱图像；5）能进行红外光谱库检索以及化学官能团辅助分析。确定物质的种类和性质；