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PTH上錫技術報告  NSG / NSD - 制工部 NSD最佳技術獎評比資料 大 綱 問題背景 問題描述 工程分析 DOE 分析 效果确認 生產良率 總結 問 題 背 景 產 品 說 明 Fab size Layer Top side Comp Qty Bot side Comp Qty PTH Comp Qty Total Comp Qty 15.60” x 16.46” x 0.125” 26 1337 1823 16 3176 Top Side Bottom Side 問 題 描 述 試產階段: PTH上錫不良（不符合IPC-A-610C sec 6.3 ). U108 U109 C327 C329 U110 C1304 C1306 問 題 描 述 5Dx測試PTH上錫高度 - - 不良值 (Agilent 5DX -X光分層分析儀 試 驗 檢 測 2D X-ray - - 确診不良方位 DPA (Destructive Physical Analysis ) 切片試驗放大觀測 DPA 顯示 上錫高度小于板厚的75% (即2.38 mm ) 2D X-ray confirm 切片顯示U109 pin6 上錫不良 工 程 分 析 關聯因素 Wave process參數 . Fixture/Flu