[工学]第二章【电子显微镜课件ppt】.pptVIP

* 晶格分辨本领的测定：利用外延生长的定向单晶薄膜作为标样，拍摄其晶格像。这种方法的优点是不需要知道仪器的放大倍数，因为事先可精确地知道样品晶面间距。根据仪器分辨本领高低，选择晶面间距不同的样品作标样。拍摄晶格条纹像，然后测量晶格像条纹间距，除以总的放大倍数，即为相应电子显微镜的晶格分辨本领。 * 2. 放大倍数测定 透射电子显微镜的放大倍数随样品平面高度、加速电压、透镜电流而变化。为了保持仪器放大倍数的精度，必须定期进行标定。 最常用的方法是用衍射光栅复型作为标样，在一定的条件（加速电压、透镜电流等）下，拍摄标样的放大象。然后从底片上测量光栅条纹象的平均间距，与实际光栅条纹间距之比即为仪器相应条件下的放大倍数。这种方法适用于5万倍以下。 * 也可在样品表面上放少量尺寸均匀，并精确已知球径的塑料小球作为内标准测定放大倍数。 在高放大倍数如10万倍以上的情况下，可以采用用来测定晶格分辨本领的晶体样品作标样，拍摄晶格条纹像，然后测量晶格像条纹间距，与实际晶面间距的比值即为相应条件下仪器的放大倍数。 * 第二章 透射电子显微镜的主要结构与成像 * * * 真空系统 供电系统 电子光学系统 第一节 透射电子显微镜的主要结构 * 电子光学系统 * * 电子光学系统 成像放大系统 图像观察和记录系统 照明系统 电子枪 聚光镜 阴极 栅极 阳极 试样室 物镜 中间镜 投影镜