物理光学与应用光学第二版课件第四章节课件(2951KB).pptVIP

或 由于这些折射率之间的差别与它们的值相比较是很小的，所以上式可近似地写成 (4.5-28) 将上式代入(4.5-19)式，同时令ρ=d/cos θt，有 (4.5-29) 　　2) 双轴晶体中的相位差 　　在双轴晶体中，设折射光的波法线方向k与两个光轴的夹角分别为θ1和θ2， 则根据(4.2-58)式有 (4.5-30) 可近似表示为 n″-n′=(n3-n1) sinθ1 sinθ2 (4.5-31) 代入(4.5-19)式，同时令ρ=d/cosθt，可得 (4.5-32) 　　2. 等色面和等色线 　　如图4-53所示，假设入射至晶片的会聚光中所有光线都通过A点，则不同的入射光线SA在晶片中的折射光有不同的波法线方向AB(它为AB′和AB″的折中)，并从晶片下表面不同的B点射出，其相应的两支透射光与入射光SA平行， 会聚在透镜焦平面的F点上，F点与B点一一对应。 　　当如图4-52所示，在晶片和透镜焦平面间放置检偏器时，各对透射光就会在各F点处发生干涉，干涉条纹的形状由相应j=常数的F点的轨迹——等色线所确定。由上所述，透镜焦平面上的等色线与晶片下表面上j=常数的各B点的轨迹一一对应，形状基本相同。而j=常数的B点轨迹实际上是晶片中围绕A点的等相位差j的曲面——等色面与出射表面的交线。 因此，如果知道了晶片中的等相位差j曲面——等色面，便可通过确定