半导体可靠性的数学基础教程.pptVIP

串联系统的失效分布： 系统的失效分布密度： 系统的失效率： 系统与各单元的平均寿命的关系： 并联系统（并联冗余系统） 分类：工作储备和非工作储备 纯并联系统：系统的寿命等于各单元寿命的最大者 混联系统 串-并联系统：将n个单元并联，再串联m个，构成n-m串-并联系统，设各单元可靠度为Rij，i=1，2，…，n，j=1，2，…，m，且所有单元的寿命相互独立，则由串联和并联公式得： 当各单元可靠度相等时 并-串联系统将m个单元串联，再并联n个，构成n-m并-串联系统，设各单元可靠度为Rij，i=1，2，…，n，j=1，2，…，m，且所有单元的寿命相互独立，则得： 当各单元可靠度相等时： 第二章可靠性的数学基础 介绍可靠性的定量表征，常用概率分布及可靠性系统 2.1可靠性的定量表征 可靠性：是指产品在规定的条件下，在规定的时间内完成规定功能的概率。 三个规定来描述可靠性——定性的 准确地描述产品可靠性——定量的 产品的寿命是随机的变量——数理统计来讨论 可靠性的数学描述：可靠度、失效概率、失效概率密度、瞬时失效率、平均寿命、可靠寿命 可靠度R(t) 产品在规定的条件下，在规定的时间内，完成规定功能的概率。常记作R(t) 用数学方式表示为： ξ为随机变量，指产品寿命，N为进行试验的产品总数，n(t)为试验到t时刻失效的总个数。N(t)为工作到t时刻仍在正常工作的