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校正原理和质量控制 4.4、计数性能测量（死时间校正） 4.4.2 死时间校正： 当计数率很高（10—30mCi）时，死时间依赖于源的分布以及能窗外散射光子的影响，尤其在动态显像中，源的分布随时变化，因此，死时间的校正变几乎无法完成。一方面，由于死时间造成计数的丢失，另一方面，堆积效应也会使记录到的光子数目变的不确定，所以，在实际系统中，需要一个堆积拒绝电路来克服堆积效应的影响。但是，大多数情况下，放射性药物总是在人体中分布的，因此，在视场范围内，入射到探测器上的光子数目要小的多。 校正原理和质量控制 4.5、多能窗空间定位性能 多能窗空间定位表征相机对不同能量的γ光子精确定位的性能。 入射到光电倍增管的光子数目（光电倍增管输出的信号）由光电倍增管距离入射光子和晶体作用点的远近以及沉积能量的多少来决定。因此，光电倍增管的信号反应了光子入射的空间位置和能量沉积的信息。分析光电倍增管的信号可以得到事件相应的位置电压信息。如果没有对位置电压—能量关系进行刻度，那么，从同一位置处发射的不同能量的γ光子就会被记录在图像的不同位置，如图5所示，导致分辨率下降。例如在测量67Ca等多γ核素成像时，采用多能窗（两个甚至三个能窗）采集的数据应当显示在同一个位置。因此，在系统中需要有相应的校正电路来保证多能窗的空间定位性能。 校正原理和质量控制 4.5、多能窗空间定位性能 NEMA标准中，系统的多能窗空间定位性能的测量用67Ca来进行，实验中，67Ca用一个直径3mm、长度至少6mm的准直器进行准直，源分别置于+X、+Y、-X、-Y 四个位置处进行测量，如图五所示。（+X，-X）、（+Y、-Y）之间的距离为UFOV半径的75%。实验结果用位置的最大偏差表示，单位为mm。 具体的实验几何设置如图五所示。 校正原理和质量控制 4.5、多能窗空间定位性能 校正原理和质量控制 4.6、固有空间分辨率 固有空间分辨率表征了相机（晶体）对γ射线进行精确定位的能力。 点源99mTc置于距离探测器表面上方5倍于UFOV直径处，模型的狭缝宽度为1mm，狭缝中心的间距为30mm，这样的尺寸选择是在保证测量时的灵敏度（测量时间）和FWHM测量精度之间权衡得到的。测量时，应当保证每个半高宽所占的道数至少为10道，就是说，对于一个直径400mm，半高宽4mm的系统，需要多道计数器至少有1000道，这样可以保证测量误差在2%以下。FWHM和FWTM的确定可以采用核物理实验中的方法。 具体的实验设置几何示意图如图六所示。 校正原理和质量控制 4.6、固有空间分辨率 校正原理和质量控制 4.7、系统灵敏度 系统灵敏度表征了SPECT系统（能窗宽度一定、包括准直器）探测γ射线的效率。系统灵敏度的表示：计数值/分钟?μCi。 NEMA测量灵敏度的方法是测量一个直径10cm、高度3mm的精确已知活度的液体面源（为了避免吸收影响）。具体的实验几何设置如图七所示。测量时，注意使源的活度应当足够低，以使死时间的影响可以忽略。源置于视场的中心，距离准直器表面100mm。测量每分钟测量到的光子数目。 由于系统可以使用不同的准直器，因此，最后结果应给出每个准直器的灵敏度以及各种准值器之间的相对灵敏度。 具体的实验几何设置如图七所示。 校正原理和质量控制 4.7、系统灵敏度 校正原理和质量控制 4.8、系统空间分辨率（无散射和有散射两种情况） 系统空间分辨率（无散射和有散射）表征了相机（准直器）系统对γ射线进行精确定位的能力。 尽管固有空间分辨率对于系统之间的比较来说是一个简便的参数，但是临床使用时，都使用了准直器，因此系统空间分辨率更为恰当。但是系统分辨率对于特定的准直器具有不同的值，这使得系统之间的比较困难了。系统分辨率用半高宽（FWHM）和全高宽（FWTM）来表示，分别进行有散射和无散射两种情况下的分辨率测量，半高宽（FWHM）和全高宽（FWTM）可以通过在X、Y方向上分别测量线源扩展函数来得到。线源内径小于1mm，中间填充99mTc，置于距准直器不同的距离进行测量，距离间隔50mm递增，直到100mm，如图六。有散射的测量中，将100mm厚的丙烯酸材料，如透明合成树脂置于源和准直器之间，同样在源上方放置厚度为50mm的相同材料。 具体的实验几何设置如图八所示。 校正原理和质量控制 4.8、系统空间分辨率（无散射和有散射两种情况） 校正原理和质量控制 5、单探头SPECT系统 —— SPECT质量控制及校正 对于SPECT成像来说，由于探头是旋转采样的，因此，带来了一些其它的需要校正的