XRD应用_材料现代研究方法.pptVIP

X射线衍射技术的应用;设晶粒由N层相同的（hkl）面组成，取 为晶面散射因素，面间距为dhkl，则N层晶面在空间任意一点P的衍射振幅Ep为：;衍射强度Ip为：;由于Dq很小，因此：;为了便于推算，令bhkl为谱线的半高宽；Dq1/2为相应的Dq，Dhkl＝Ndhkl为晶体沿（hkl）面法线方向的厚度，代入得：;微观应力与衍射线的宽化;;两种物理因素共同导致的衍射线宽化;;将fD曲线下所有窄条扩展后在y处的强度加和，即为该处的综合宽化强度值f(y)。;X射线物相分析的基本原理与思路 ;分析的思路：将样品的衍射花样与已知标准物质的衍射花样进行比较从中找出与其相同者即可。X射线物相分析方法定性分析——只确定样品的物相是什么单相定性分析多相定性分析定量分析——分析试样中每个物相的含量。 ;定性物相分析的原理;单相定性分析 ;标准物质的粉末衍射卡片是由J. D. Hanawalt 于1936年创立的。1964年由美国材料试验协会（Amerian Society for Testing Materials）接管，所以过去称为ASTM卡片或PDF卡片（Powder Diffraction File）。目前这套卡片由“国际粉末衍射标准联合会” （Joint Committee on Powder Diffraction Standards）与美国材料试验协会、美国结晶学协会