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中国电子科技集团公司第四十五研究所
CHINAELECTRONICSTECHNOLOGYGROUPCORPORATION
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样品及测试信息
样品名称 三极管
BTA208X 2
BTA208X 2
BBTTAA220088XX 22个
样品数量
BT139X 3
BT139X 3
BBTT113399XX 33个
检测要求 内部分层、裂纹、夹杂、气泡等缺陷情况
BTA208X
BTA208X
BBTTAA220088XX
器件照片
BT139X
BT139X
BBTT113399XX
设备生产商 中国电子科技集团公司第四十五研究所
测试地点 中国电子科技集团公司第四十五研究所检测工艺实验室
地址：北京经济技术开发区泰河三街1号
NO.20Taihe3rd Street,Beijing Economy Technology Development Zone,Beijing,China
邮编：100176 电话：010 传真：010 网址：
中国电子科技集团公司第四十五研究所
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CCHHIINNAAEELLEECCTTRROONNIICCSSTTEECCHHNNOOLLOOGGYYGGRROOUUPPCCOORRPPOORRAATTIIOONN
15MHz 30MHz
说明：本次扫描换能器选用 和
A
A
AA扫描 是探头接收到的示波器显示，是将探头-
聚焦在器件上某一点所取的波形，它是
创建和解释图像的基础。
C
C
CC扫描 通过聚焦并收集一个样品上特定的一个平面-
上的信息创建出来的，是对样品截面的扫描。
BTA208X
BTA208X
一、器件BBTTAA220088XX
点胶边缘
，非缺陷
C
芯片上表面 扫描图像，无明显缺陷 伪彩色图像
数据门 正波形，
无缺陷
前表面门
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