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探地雷达在管线探测与工程勘察中的应用.doc

探地雷达在管线探测与工程勘察中的应用 摘 要 简要地介绍了探地雷达的勘探原理,工作方法、技术,及其在工程勘察中的应用,并在前人的基础上,利用SIR-2型探地雷达,寻找地下管线和确定工程地质界面,进行了一系列的实测工作,获得了高质、清晰、直观的GPR图像。 关键词 探地雷达;同相轴;地下管线;地质界面;混凝土路面 0 前 言   雷达技术应用于地下勘探是一项较早就提出的研究课题,只是在高频微电子技术以及计算技术迅速发展的20世纪后期,此项技术才获得根本性的进展。今天,探地雷达不仅在探测装备方面,高度集中了近代电信技术成就而获得极大的改善,而且应用领域也已由低损耗地下介质向有耗地下介质迅速拓展。探地雷达是利用高频电磁波以宽频带短脉冲,向地下发送并接收目标体的反射波,探测地下目标或介质分布的一种勘探地球物理方法。因与探空雷达技术相似,故亦称“地质雷达”。   探地雷达的迅速发展与应用,是由于它具有以下突出特点:(1)它是一种非破坏性的原位探测技术,可以安全地用于城市和正在建设中的工程现场;(2)抗电磁干扰能力强,可在各种噪声环境下工作,环境干扰小;(3)具有工程上较满意的探测深度和分辩率,现场直接提供实时剖面记录,图像清晰、直观;(4)便携式微机控制数据采集、存储和处理,工作效率高,重复性好。   随着我国城市建设的飞速发展,由于原有城市地下管线资料欠缺严重,因此,查明地下管线并确定具体分布、埋深及走向的任务非常紧迫。探地雷达以其轻便、快捷、准确等特点,已成为地下管线勘察的首选方法。   在工程地质勘察方面,探地雷达也可以满足大部分工程探测的要求。配合极少量的钻探工作或其他已知资料,探地雷达既可以完整地了解整个探测剖面的地层情况,对地层进行详细分层,界定层面深度,还可以发现一些细小的地质变化和某些孤立的地质体,为工程场地地质勘查节省大量的钻探工作量,缩短工期,提高勘察精度与工作效率。 1 方法原理和技术 1.1 方法原理   探地雷达利用具有一定中心频率的高频电磁脉冲,通过天线(T)向地下发射,经地层或目的体反射后形成反射回波返回地面,为另一接收天线(R)所接收(图1)。 图1 反射雷达探测原理 Figure 1 Reflected radar prospecting theory   大家知道,脉冲波旅行时为: 当地下介质中的波速v为已知时,可根据精确测得的走时t,由(1)式求得目标体的深度z。式中x值即收发距,在剖面测量中是固定的;v值可用宽角法直接测量,也可以根据公式: 近似计算。c为光速,εν为地下介质的相对介电常值。波的双程走时由反射脉冲相对于发射脉冲的延时而确定。雷达图形常以脉冲反射波的波形形式记录。波形的正负峰分别以黑色和白色表示,或以灰阶或彩色表示。这样,同相轴或等灰度、等色线,即可形象地表征出地下反射界面。图2为波形记录示意图。图中对照一个简单的地质模型,画出了相应的波形记录。在波形记录上,各测点均以测线的铅垂方向记录波形,构成雷达剖面。 图2 雷达剖面记录示意图 Figure 2 Sketch map of radar section recording   反射脉冲波形的明显程度,是对探地雷达图像进行地质解释的重要依据。它决定于发射脉冲波的能量,波在地质界面上的反射特性以及波在地下介质中行进时的衰减情况。仪器探测灵敏度n~nt微伏。反射特性决定于物性界面的波阻抗差异,以反射系数描述。对于平面波、反射系数应为: R12=(Z2-Z1)/(Z2+Z1)  (2) (2)式为垂直入射公式,入射角为90°。   Z1,Z2分别为界面两侧介质的法向波阻抗,由介质的复介电常数、磁导率决定。由于介质具有导电性,反射系数呈复数形式,所以,对于非平面波的值,在几何光学条件下仍起主导作用。若考虑位移电流为主,则 εr为相对介电常数,角标表示波所在的介质。例如,对于土壤与花岗岩的交界面,反射系数模值|R|≈0.333 3,即反射能量为入射的33.33%。因此介电常数对反射系数的影响至关重要,而含水性则与εr值密切相关。   波在有耗介质中的衰减,是由于传导电流的热损耗和介质极化过程中的附加损耗。除了这些本质原因,还有波的空间发散损耗和散射损耗。若仅考虑前一原因,则以吸收系数表征的波衰减特性与介质性质的理论关系,为: 式中μ,ε和σ分别为介质的磁导率、介电常数和导电率,ω=2πf为角频率。对于低导介质 它正比于σ而与εr呈根号反比关系。在一般介质中,β还与f有关,大致是随f升高而加大。   波速(相速)的确定,可使探地雷达的双程时间转换为深度。   由于 v=λf=ω/α 而          称为相位系数。对于低导介质 于是              f′为以兆赫计的频率。这便是前述波速公式v=c/εr的由来。   以上表明

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